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等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂
| 专利名称： | 等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂 |
| 摘要： | 本发明涉及等离子体分光分析方法和来自非靶材的等离子体发光的抑制剂。等离子体分光分析方法的特征在于，包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将上述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对上述一对电极施加电压，在上述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在上述等离子体的作用下产生的上述靶材的发光进行检测，上述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 爱科来株式会社 |
| 发明人： | 笠井督夫 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710898206.4 |
| 公开号： | CN107917906A |
| 代理机构： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
| 代理人： | 庞东成;褚瑶杨 |
| 分类号： | G01N21/69(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/69 |
| 申请人地址： | 日本京都府 |
| 主权项： | 一种等离子体分光分析方法，其包括下述步骤：浓缩步骤，在试样的存在下，在一对电极中的一个电极的附近将所述试样中的靶材进行浓缩；等离子体产生步骤，通过对所述一对电极施加电压，在所述试样中产生等离子体；以及检测步骤，对在所述等离子体的作用下产生的所述靶材的发光进行检测，所述等离子体产生步骤在消泡剂的存在下进行。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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