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微波反射率测量组件及微波反射率测量系统
| 专利名称： | 微波反射率测量组件及微波反射率测量系统 |
| 摘要： | 一种微波反射率测量组件及微波反射率测量系统，属于微波测量领域。该微波反射率测量组件包括弓形架及设于弓形架上的两个测试天线，弓形架内还设有可升降的样品支架，样品支架的两侧分别设有相对布置的激光发射器和用于接收激光发射器发射激光的光传感器。本实用新型提供的微波反射率测量组件无需校准就能够快速高效的对不同材料进行多次测量。本实用新型还提供了包含上述微波反射率测量组件的微波反射率测量系统。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 航天科工武汉磁电有限责任公司 |
| 发明人： | 余争鸣;潘金杰;甘丹;毛晶晶 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-04T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-09-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201822026105.0 |
| 公开号： | CN209342634U |
| 代理机构： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 孙海杰 |
| 分类号： | G01N22/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N22 |
| 申请人地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区华光大道5-2号 |
| 主权项： | 1.一种微波反射率测量组件，其包括弓形架及设于所述弓形架上的两个测试天线，其特征在于，所述弓形架内还设有可升降的样品支架，所述样品支架的两侧分别设有相对布置的激光发射器和用于接收所述激光发射器发射激光的光传感器。 2.根据权利要求1所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述微波反射率测量组件包括用于驱动所述样品支架升降的升降气缸。 3.根据权利要求1所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述激光发射器和所述光传感器被配置成可升降布置。 4.根据权利要求1所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述弓形架还连接有可升降的吸波板，所述吸波板位于两个所述测试天线之间。 5.根据权利要求4所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述吸波板包括与所述弓形架连接的第一板及与所述第一板通过连杆连接的第二板。 6.根据权利要求5所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述第二板可转动的与所述第一板连接。 7.根据权利要求5所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述第二板开设有伸缩孔，所述连杆可伸缩的插设于所述伸缩孔内。 8.根据权利要求1所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述测试天线被配置成可沿所述弓形架移动。 9.根据权利要求1所述的微波反射率测量组件，其特征在于，所述弓形架连接有弧形的轨道，所述测试天线连接有滑动设于所述轨道上的滑块。 10.一种微波反射率测量系统，其特征在于，其包括如权利要求1至9中任一项所述的微波反射率测量组件及样品测试板。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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