专利名称: |
一种反射率测试集成微波探头 |
摘要: |
本发明涉及微波器件技术领域,涉及一种反射率测试集成微波探头。所述的传导探头为H面喇叭结构,依次分为四部分,前端为与吸波涂层紧密贴合的测量端口;其次为喇叭型的具有特殊扩张角度和扩张长度的扩张段;再次为标准波导段;最后为标准波导法兰;本发明的微波电路与前端信号馈送电路采用固化的电路连接,以恒温晶振作为基准时基,为整个系统提供频率基准,频率输出精度稳定且不受环境温度影响;以恒温晶振为参考源,频率输出精度与基准源等同,保证了测量重复性和动态范围;时序控制双锁相源同时变换输出频率;具有测量稳定性高、重复性好、环境温度影响小、矢量对消效果优异、可靠性及自动化程度高的特点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
成都飞机工业(集团)有限责任公司 |
发明人: |
王睿;邓乐武;魏平;何映锋;李珂好;吴杰;张雷 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-07-18T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-29T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910649467.1 |
公开号: |
CN110389135A |
分类号: |
G01N22/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N22 |
申请人地址: |
610092 四川省成都市青羊区黄田坝纬一路88号 |
主权项: |
1.一种反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的反射率测试集成微波探头将微波电路集成于探头之上,所述的传导探头为H面喇叭结构,所述微波电路与前端信号馈送电路采用固化的电路连接。 2.根据权利要求1所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的传导探头依次分为四部分:前端为与吸波涂层紧密贴合的测量端口(1);其次为喇叭型的扩张段(2);再次为标准波导段(3);最后为标准波导法兰(4)。 3.根据权利要求1所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的微波电路包含基准时基、宽带锁相源、时序控制器、放大器、环形耦合器、混频器以及数字解调处理器。 4.根据权利要求3所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的基准时基采用恒温晶振。 5.根据权利要求3所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的宽带锁相源为两个,由时序控制并同时变换输出频率,且两者相差固定频率。 6.根据权利要求3所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的微波电路由压控振荡器、环路滤波、分频器、鉴相器和控制器组成闭环控制。 7.根据权利要求2所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的扩张段(2)的扩张角度和扩张长度通过数值仿真求解。 8.根据权利要求3所述的反射率测试集成微波探头,其特征在于:所述的传导探头和所述微波电路通过微带探针与波导探头进行匹配连接。 |
所属类别: |
发明专利 |