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原文传递超声波探头性能高集成检测试块

专利名称：	超声波探头性能高集成检测试块
摘要：	本实用新型提供一种超声波探头性能高集成检测试块，包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体，所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径，所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径。本实用新型由于将第一扇体、第二扇体和第三扇体设置成为半圆柱状扇体，因此能够快速进行纵波直探头、横波斜探头及纵波小角度探头声轴偏斜角的测定，由于在平面及端面上有刻线，且第一扇体、第三扇体的半径为第二扇体半径的2倍左右，因此能够快速进行凹面和平面斜探头入射点、前沿长度的测定，利用圆弧可以检测探头的脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	中车戚墅堰机车车辆工艺研究所有限公司
发明人：	万升云;章文显;葛佳棋;郑小康;李广立;钱政平
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201822075914.0
公开号：	CN209542529U
代理机构：	南京乐羽知行专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	缪友建
分类号：	G01N29/30(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	213011 江苏省常州市五一路258号
主权项：	1.超声波探头性能高集成检测试块，包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体（1）、第二扇体（2）和第三扇体（3），其特征在于: 所述第一扇体（1）、第二扇体（2）和第三扇体（3）的圆心在同一直线上，所述第二扇体（2）的半圆柱体的半径小于所述第一扇体（1）的半圆柱体的半径，所述第一扇体（1）的半圆柱体的半径小于第三扇体（3）的半圆柱体的半径，第三扇体（3）的半圆柱半径是第二扇体（2）的半圆柱体的半径的2±0.5倍；所述第一扇体（1）和第二扇体（2）与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体（3）与圆弧面相对的侧立面为平面。 2.如权利要求1所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一扇体（1）的侧立面上依次设有第一平面（1-1）、第一凸圆弧面（1-2）、第二平面（1-3）以及第二凸圆弧面（1-4）；所述第一扇体（1）顶端具有第一端面（1-5）。 3.如权利要求2所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第二扇体（2）的侧立面上依次设有第三凸圆弧面（2-1）、第三平面（2-2）以及第四平面（2-3）。 4.如权利要求3所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第三扇体（3）的侧立面为第五平面（3-1），所述第三扇体（3）顶端为第二端面（3-2）。 5.如权利要求3所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一凸圆弧面（1-2）、第二凸圆弧面（1-4）以及第三凸圆弧面（2-1）的圆弧半径相等。 6.如权利要求4所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一扇体（1）的第一端面（1-5）上设有第一端面刻线（4-1）；所述第三扇体（3）的第二端面（3-2）上圆心中心处有第二端面刻线（4-2）。 7. 如权利要求6所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于: 所述第一扇体（1）的第一平面（1-1）和第二平面（1-3）轴线上分别有第一平面刻线（5-1）和第二平面刻线（5-2），第二扇体（2）的第三平面（2-2）和第四平面（2-3）的轴线上分别有第三平面刻线（5-3）和第四平面刻线（5-4），第三扇体（3）的第五平面（3-1）轴线上设有第五平面刻线（5-5）。 8.如权利要求3所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一凸圆弧面（1-2）、第二凸圆弧面（1-4）以及第三凸圆弧面（2-1）的圆弧的圆心处于同一轴线上。 9.如权利要求6所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一端面刻线（4-1）和第二端面刻线（4-2）的长度均为5mm，刻线深度均为0.3mm。 10. 如权利要求7所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于: 所述第一平面刻线（5-1）、第二平面刻线（5-2）、第三平面刻线（5-3）第四平面刻线（5-4）以及第五平面刻线（5-5）的刻线深度为0.1mm～0.15mm，且第一端面刻线（4-1）和第一平面刻线（5-1）相连，第二端面刻线（4-2）与第四平面刻线（5-4）、第五平面刻线（5-5）相连。
所属类别：	实用新型