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原文传递一种用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法及样品结构

专利名称：	一种用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法及样品结构
摘要：	一种用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法及样品结构，通过三个阶段的不断研磨侧面抛光，使样品表面达到一个理想的检测粗糙度，再将样品和进行激光打槽后的石英片组合，最后用银浆封装以用于EBSD的检测，经过本方法制备的检测样本用于EBSD检测时，检测效果好，成像清晰。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海大学
发明人：	陈振宜;包晓杰;陈娜;王廷云;刘书朋;张小贝
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201910477084.0
公开号：	CN110174425A
代理机构：	贵阳睿腾知识产权代理有限公司
代理人：	谷庆红
分类号：	G01N23/2005(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	200444 上海市宝山区上大路99号
主权项：	1.一种用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤一，选取石英片一份，置于激光器下，用激光在石英片上打出宽度略大于裸纤直径的凹槽；步骤二，取待检测的光纤样本，去除一端的涂覆层，擦拭干净后插入光纤适配器中，并使光纤样本的端部露出于光纤适配器；步骤三，打开研磨机，用3μm粗糙度的研磨纸对光纤样本去除涂履层的一端进行研磨，30秒后进入下一步骤；步骤四，更换3μm粗糙度的研磨纸，使用1μm粗糙度的研磨纸继续进行研磨，30秒后进入下一步骤；步骤五，更换1μm粗糙度的研磨纸，使用ADS抛光纸继续进行研磨，30秒后进入下一步骤；步骤六，截取1cm长度的光纤样品，并将样品卡入石英片当中的凹槽中；步骤七，用银浆对石英片进行涂抹和封装，完成用于EBSD检测丝状样品的制备。 2.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：所述步骤三以及步骤四中对光纤样本去除涂覆层的一端进行研磨时，光纤样本与研磨纸端面垂直。 3.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：步骤五中对光纤样本去除涂覆层的一端进行研磨时，光纤样本与抛光纸端面垂直。 4.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：所述步骤三、步骤四以及步骤五中研磨30秒后需使用显微镜观察样本表面，若达到研磨要求，则进入下一步，若不达到，则再次研磨30秒，直至达到研磨要求。 5.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：所述步骤一中，选取的石英片为正方形。 6.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：所述步骤二中取用的光纤样本的长度大于光纤适配器的长度。 7.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝线状样品的制样方法，其特征在于：所述步骤七中，使用银浆对石英片进行涂抹和封装时，需对石英片的6个面都进行涂抹。 8.如权利要求1所述的用于EBSD检测的丝状样品的制样方法，其特征在于：所述步骤七中，使用银浆完成对石英片的涂抹和封装后，还需使用轮廓仪对丝状样品的粗糙度进行检测。 9.一种使用权利要求1-9任一用于EBSD检测的丝状样品的制样方法所形成的丝状样品结构，包括打磨完成的丝线状样品、矩形石英片以及银浆包层，其中矩形石英片上打有凹槽，打磨完成的丝线状样品置于所述凹槽中，银浆包层包于矩形石英片的外部，将打磨完成的丝线状样品与矩形石英片包裹为一体。
所属类别：	发明专利