详情

原文传递基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法及其装置

专利名称：	基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法及其装置
摘要：	本发明公开了一种基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法及其装置，采用超声发射探头在缺陷试件上发射超声信号，并采用超声接收探头在所述缺陷试件同面上接受超声回波信号；采集到回波信号后，并对回波信号进行小波包变换去噪处理；对小波包变换去噪处理后的所述回波信号进行序贯概率比测试识别处理，得到衍射信号的起始点；根据所述衍射信号的起点确定缺陷的位置。本发明提出一种基于序贯概率比测试的识别检测与定位方法，能广泛应用于不同类型的结构缺陷的检测与定位，精度和普适性高。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉工程大学
发明人：	陈汉新;黄浪;范东亮;张光宇;苗育茁;王琪;柯耀;杨柳
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910440745.2
公开号：	CN110161131A
代理机构：	湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人：	唐万荣
分类号：	G01N29/44(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号
主权项：	1.一种基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别装置，其特征在于，包括超声发射信号单元、超声接收信号单元，小波包变换单元、序贯假设检验测试单元和位置获取单元；所述超声发射信号单元，用于采用超声发射探头在缺陷试件上发射超声信号；所述超声接收信号单元，用于采用超声接收探头对所述缺陷试件上接收超声回波信号；所述小波包变换单元，用于根据所述回波信号进行信号去噪处理；所述序贯假设检验测试单元，用于对滤波处理后的所述回波信号进行序贯概率比测试识别处理，得到衍射信号的起始点；位置获取单元，用于根据所述衍射信号的起点确定缺陷的位置。 2.根据权利要求1所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别装置，其特征在于，还包括信号源确定单元，信号源确定单元用于根据所述缺陷试件的参数分别确定相匹配的超声发射探头的参数和相匹配的超声接收探头的参数。 3.根据权利要求1或2所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别装置，其特征在于，缺陷试件的参数包括缺陷试件的尺寸、材料、声速传播速度和微裂纹缺陷范围，低频超声探头的参数包括孔径大小、中心频率和采样频率，超声接受探头的参数包括孔径大小、中心频率和采样频率。 4.根据权利要求1或2所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别装置，其特征在于，小波包变换单元，用于对裂纹尖端衍射回波信号进行滤波去噪处理。 5.一种基于权利要求1的序贯假设检验缺陷反射信号识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤，步骤1：采用超声发射探头在缺陷试件上发射超声信号，并采用超声接收探头在缺陷试件同面上接受超声回波信号；步骤2：采集到回波信号后，对回波信号进行小波包变换去噪处理；步骤3：对小波包变换去噪处理后的回波信号进行序贯概率比测试识别处理，得到衍射信号的起始点；步骤4：根据衍射信号的起点确定缺陷的位置。 6.一种基于权利要求5的序贯假设检验缺陷反射信号识别方法，其特征在于，所述步骤2中小波包变换处理具体为：利用小波包变换对信号进行三级分解，对原始信号进行去噪处理。 7.根据权利要求5或6所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法，其特征在于，所述步骤3中序贯概率比测试具体步骤为：步骤31：识别超声波回波信号的起始点，以准确确定裂纹的深度；步骤32：根据SPRT似然比的波形在一点上的突变来识别衍射超声脉冲的起始点。 8.根据权利要求5或6所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法，其特征在于，所述步骤4具体为，根据缺陷试件超声信号的均方根序列Y(Si(0))和Y(Si(1))输入方程计算出SPRT似然比λ0,1(Y(Si(0)))和λ0,1(Y(Si(1)))，并根据均方根序列坐标计算识别衍超声发射脉冲的起始点，计算具体公式为： i＝0,0.2,···,1,0，i表示两个传感器之间的距离； j＝0,1，j表示每个距离处收集两组信号。 9.根据权利要求5或6所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法，其特征在于，所述步骤1中，根据缺陷试件的参数信息分别确定相匹配的超声发射探头的参数和相匹配的超声接受探头的参数。 10.根据权利要求9所述的基于序贯假设检验的缺陷反射信号识别方法，其特征在于，缺陷试件的参数信息包括缺陷试件的尺寸、材料、声速传播速度和裂纹的缺陷范围，超声发射探头的参数包括孔径大小、中心频率和采样频率，超声接收探头的参数包括探头的孔径大小、中心频率和采样频率。
所属类别：	发明专利