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基于微波反射的金属构件缺陷的无损定量识别方法及系统
| 专利名称： | 基于微波反射的金属构件缺陷的无损定量识别方法及系统 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于微波反射的金属构件缺陷的无损定量识别方法及系统，应用于无损检测领域，针对现有技术中采用矢量网络分析仪采集反射系数相位参数时相位缠绕现象，通过基于最小二乘法的无权重的Gauss‑Seidel的方法进行相位解缠，恢复模糊掉的相位周期，获得扫描过程中采集位置的真实相位值，使反射系数相位信息更加准确；从而通过求解解缠相位离散点的梯度，根据梯度最大值和最小值计算出缺陷位置边界；并且本发明微波检测信号激励中使用设定的优化提离和优化频率参数进行检测，检测效果更好。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 电子科技大学 |
| 发明人： | 于亚婷;李延斌;王聪;杜平安 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810438505.4 |
| 公开号： | CN108593683A |
| 代理机构： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 |
| 代理人： | 王伟 |
| 分类号： | G01N22/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N22;G01N22/02 |
| 申请人地址： | 611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号 |
| 主权项： | 1.一种基于微波反射的金属构件缺陷的无损定量识别方法，其特征在于，包括：S1、根据精度需求选择对应的微波频段；S2、产生微波频段对应的激励信号；并以优化频率的激励信号输出至矩形开口波导；S3、通过矩形开口波导对金属表面缺陷进行平面扫描，获得反射系数的实部与虚部；S4、根据步骤S3获得的反射系数的实部与虚部计算得到反射系数相位；S5、采用最小二乘法的无权重的Gauss‑Seidel的方法对步骤S4得到的反射系数相位进行相位解缠；S6、通过对经步骤S5得到的解缠相位离散点求解梯度，得到梯度最小点与梯度最大点，根据梯度最小点与梯度最大点得到缺陷位置的识别边界。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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