详情

原文传递检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质

专利名称：	检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质
摘要：	本公开涉及一种检测方法和装置，光谱检测设备及存储介质，所述检测方法应用于光谱检测设备，所述方法包括：获取被测样品表面的待测区域的区域信息；根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦。通过本公开的技术方案，在对被测样品进行光谱检测时，只需通过一次测量便能够获取被测样品不同位置的独立光谱数据，基于不同位置的光谱数据可以准确得到整个被测样品的完整、真实的物质成分信息，有效避免了被测样品物质分布不均导致的测量结果不完整、不准确的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京云端光科技术有限公司
发明人：	刘武宏;杨威;牟涛涛
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201910415317.4
公开号：	CN110208196A
代理机构：	北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	曾尧
分类号：	G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100048 北京市海淀区西三环北路甲2号院5号楼1702室
主权项：	1.一种检测方法，其特征在于，应用于光谱检测设备，所述方法包括：获取被测样品表面的待测区域的区域信息；根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述区域信息包括所述待测区域的形状和尺寸信息；所述根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息，包括：根据区域形状与测量点分布信息之间的预设对应关系，以及所述待测区域的形状，确定所述待测区域的测量点分布信息，其中，所述测量点分布信息包括测量点在区域中的分布区域，以及各个所述分布区域内的测量点密度或者数量；根据所述待测区域的尺寸信息和测量点分布信息，确定所述待测区域内的测量点数量以及各个测量点的位置信息。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述区域信息包括所述待测区域的尺寸信息；所述根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦，包括：根据所述测量点的数量和所述待测区域的尺寸信息，确定所述待测区域内的测量点密度；若所述测量点密度大于或等于预设阈值，则依次根据每一所述测量点的位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光依次在各个所述测量点聚焦。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦，还包括：若所述测量点密度小于所述预设阈值，则根据所述待测区域的尺寸信息和各个所述测量点的位置信息，将所述测量区域划分为与所述测量点的数量相等的多个测量子区域，得到每一所述测量子区域的尺寸信息，其中，一个所述测量子区域包含一个所述测量点，且各个所述测量子区域之间互不重叠；依次针对每一所述测量子区域，根据该测量子区域的尺寸信息和预设的平面扫描方式调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光依次在每一所述测量子区域的不同位置聚焦。 5.一种检测装置，其特征在于，应用于光谱检测设备，所述装置包括：获取模块，用于获取被测样品表面的待测区域的区域信息；确定模块，用于根据所述区域信息确定所述待测区域内的测量点的数量和位置信息；调整模块，用于根据所述测量点的数量和位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光在所述待测区域的不同位置聚焦。 6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述区域信息包括所述待测区域的形状和尺寸信息，所述确定模块包括：第一确定子模块，用于根据区域形状与测量点分布信息之间的预设对应关系，以及所述待测区域的形状，确定所述待测区域的测量点分布信息，其中，所述测量点分布信息包括测量点在区域中的分布区域，以及各个所述分布区域内的测量点密度或者数量；第二确定子模块，用于根据所述待测区域的尺寸信息和测量点分布信息，确定所述待测区域内的测量点数量以及各个测量点的位置信息。 7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述区域信息包括所述待测区域的尺寸信息，所述调整模块包括：第三确定子模块，用于根据所述测量点的数量和所述待测区域的尺寸信息，确定所述待测区域内的测量点密度；第一调整子模块，用于若所述测量点密度大于或等于预设阈值，则依次根据每一所述测量点的位置信息调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光依次在各个所述测量点聚焦。 8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述调整模块还包括：划分子模块，用于若所述测量点密度小于所述预设阈值，则根据所述待测区域的尺寸信息和各个所述测量点的位置信息，将所述测量区域划分为与所述测量点的数量相等的多个测量子区域，得到每一所述测量子区域的尺寸信息，其中，一个所述测量子区域包含一个所述测量点，且各个所述测量子区域之间互不重叠；第二调整子模块，用于依次针对每一所述测量子区域，根据该测量子区域的尺寸信息和预设的平面扫描方式调整所述光谱检测设备射入的光的入射角，以使所述光谱检测设备射出的光依次在每一所述测量子区域的不同位置聚焦。 9.一种光谱检测设备，其特征在于，包括权利要求5至8中任一项所述的检测装置。 10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
所属类别：	发明专利