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原文传递 一种基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统
专利名称: 一种基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统
摘要: 本实用新型提供了一种基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,属于生产线检测技术领域。系统包括相连接的CCD相机硬件平台和上位机;所述CCD相机硬件平台包括镜头、CCD传感器和主板,CCD相机的输出端连接CCD传感器的输入端,CCD传感器的输出端连接主板;所述主板包括FPGA芯片以及分别与其连接的ADC信号处理芯片、DDR3内存、以太网PHY芯片和电源模块,以太网PHY芯片通过千兆以太网线连接上位机。本实用新型具有控制便捷、响应迅速、大数据量稳定传输的优点,有助于满足工业场景下对目标产品缺陷检测更高精度、更快处理速度的需求。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 武汉华威科智能技术有限公司
发明人: 周玉宇;杨宇阗奕
专利状态: 有效
申请日期: 2018-12-10T00:00:00+0800
发布日期: 2019-08-27T00:00:00+0800
申请号: CN201822068646.X
公开号: CN209311350U
代理机构: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人: 方可
分类号: G01N21/89(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号海外人才大楼B座3楼301室
主权项: 1.一种基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,包括相连接的CCD相机硬件平台和上位机; 所述CCD相机硬件平台包括镜头、CCD传感器和主板,CCD相机用于对流水线传动机构上的产品目标进行图像采集,CCD相机的输出端连接CCD传感器的输入端,CCD传感器的输出端连接主板;所述主板包括FPGA芯片、ADC信号处理芯片、DDR3内存、以太网PHY芯片和电源模块,ADC信号处理芯片的输入端连接CCD传感器的输出端,ADC信号处理芯片的输出端连接FPGA芯片的第一端,FPGA芯片的第二端连接DDR3内存,FPGA芯片的第三端连接以太网PHY芯片,以太网PHY芯片通过千兆以太网线连接上位机,电源模块连接FPGA芯片、ADC信号处理芯片、DDR3内存和以太网PHY芯片。 2.根据权利要求1所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,还包括连接所述CCD相机硬件平台的相机电源。 3.根据权利要求1或2所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,所述镜头型号为Componon-S 2.8/50。 4.根据权利要求1或2所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,所述CCD传感器型号为KAI-29050-AXA-JD-B2。 5.根据权利要求1或2所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,FPGA芯片型号为XC7A50T-2FGG484I。 6.根据权利要求1或2所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,所述DDR3内存型号为MT47H64M16。 7.根据权利要求1或2所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,所述ADC芯片型号为AD9928。 8.根据权利要求1或2所述的基于以太网传输的流水线光学缺陷检测系统,其特征在于,所述PHY以太网PHY芯片型号为88E1510。
所属类别: 实用新型
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