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原文传递改进的玻璃检查系统

专利名称：	改进的玻璃检查系统
摘要：	本发明涉及一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的一个或多个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的一个或多个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b）。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	法国;FR
申请人：	法国圣戈班玻璃厂
发明人：	T.里巴奇克;P.法约勒;E.加尼翁;L.勒默
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-18T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201880004739.6
公开号：	CN110178020A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司
代理人：	邓雪萌;王丽辉
分类号：	G01N21/896(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	法国库伯瓦
主权项：	1.一种用于检查玻璃基板（S）的检查系统（100），包括用于使所述玻璃基板移动的传送工具（102），适于清洁所述玻璃基板的至少一个表面的清洁装置（104）和第一视觉检查装置（103a），所述第一视觉检查装置相对于所述基板的运动位于所述清洁装置的下游，所述第一视觉检查装置包括适于捕获所述玻璃基板的至少一个经清洁的表面的后清洗图像（IP2）的光学传感器（1030），其特征在于，所述检查系统还包括相对于所述基板的运动位于所述清洁装置上游的第二视觉检查装置（103b），所述第二视觉检查装置包括适于捕获玻璃基板的至少一个经清洁的表面的前清洗图像（IP1）的光学传感器，并且在于，所述检查系统包括用于将后清洗图像与前清洗图像相比较的比较工具。 2.根据权利要求1所述的检查系统，其中，每个视觉检查装置（103a，103b）适于检测特定点，利用这些特定点将所述后清洗图像与所述前清洗图像进行比较。 3.根据权利要求2所述的检查系统，其中，所述特定点是根据它们在玻璃基板（S）上的位置，它们的尺寸以及与特定点的成像表面相对应的玻璃图像中的信号水平而表征的。 4.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，每个视觉检查装置包括控制模块（1031），包括比较工具（1050）的连接模块（150）连接到每个控制模块。 5.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，所述视觉检查装置（103a，103b）由包括比较工具的单个控制模块（1031）控制。 6.根据前述权利要求中的任一项所述的检查系统，其中，所述清洁装置（104）包括至少一个气刀和/或至少一个刷子。 7.一种借助于前述权利要求中的任一项所述的检查系统检查玻璃基板的检查方法，其特征在于，它包括以下步骤： - 所述第二视觉检查装置（103b）捕获玻璃基板的面的前清洗图像（IP1）； - 所述清洁装置（104）清洁所述玻璃基板（S）的所述面； - 所述第一视觉检查装置（103a）捕获所述玻璃基板上的经清洁的面的后清洗图像（IP2）； - 将所述后清洗图像与所述前清洗图像进行比较。 8.根据前一项权利要求所述的检查方法，其特征在于，所述比较步骤包括： - 识别后清洗图像（IP2）和前清洗图像（IP1）的特定点（Pi，P'i）； - 根据位置、尺寸和玻璃图像上的与特定点的成像表面相对应的信号水平来表征所述特定点（Pi，P'i）； - 将后清洗图像的每个特定点（P'i）与前清洗图像的每个特定点（Pi）对照；且 - 确定特定点的性质，使得如果后清洗图像的特定点（P'i）的位置、尺寸和信号水平与前清洗图像的特定点（Pi）的位置和尺寸相同，则该特定点对应于缺陷，否则该特定点对应于杂质。 9.根据权利要求7至8中的任一项所述的检查方法，其特征在于，在所述比较步骤之后，还包括以下步骤：根据比较结果将所述玻璃基板引导向处理的继续或引导向再循环。 10.根据权利要求8所述的检查方法，其特征在于，在所述比较步骤之后，还包括以下步骤：根据所述比较的结果，将所述玻璃基板（S）引导向所述处理的继续或者引导向再循环，该步骤恰好在所述玻璃基板上的缺陷检测之后执行。
所属类别：	发明专利