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轨道电路一次参数测量方法
| 专利名称： | 轨道电路一次参数测量方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种轨道电路一次参数测量方法，采用二次短路法测量，将距测量端口两侧L处和2L处钢轨短路，从测量端口测量三处电压有效值U |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 铁道第四勘察设计院 |
| 发明人： | 沈志凌;吴汶麒;李红侠;刘新平;架九彪;郑建利;刘进;肖雅君;诸蓉萍;枉杨;朱春芳 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2004-07-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200410013466.1 |
| 公开号： | CN1595182 |
| 分类号： | G01R27/02 |
| 申请人地址： | 430063湖北省武汉市武昌杨园和平大道745号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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