专利名称: |
一种钻石光学参数测量方法 |
摘要: |
本发明公开了一种钻石光学参数测量方法,其包括如下步骤:S1、提供一光源,所述光源照射于待测量钻石;S2、驱动所述钻石转动,使所述光源从不同角度照射于所述钻石;S3、采集并存储不同角度光线照射钻石后形成的图像;S4、计算分析钻石的光学参数。该方法可直接测量并计算出切磨后钻石的光学参数,与传统方法相比,可直接有效、客观地评价钻石的光学效果,另外,测得的光学效果参数可直接展示于显示装置,被消费者实时获知,另外该方法步骤简单,无需特殊培训的人员即可处理,检测可靠性和一致性高,能有效提高加工过程中钻石切磨的质量、钻石的成品率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市完美爱钻石有限公司 |
发明人: |
林畅伟 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201811195498.6 |
公开号: |
CN108931523A |
代理机构: |
深圳市精英专利事务所 44242 |
代理人: |
龙丹丹 |
分类号: |
G01N21/87(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/87;G01N21/01 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市罗湖区翠竹街道布心路3033号水贝壹号大厦A座9楼10楼 |
主权项: |
1.一种钻石光学参数测量方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、提供一光源,所述光源照射于待测量钻石;S2、驱动所述钻石转动,使所述光源从不同角度照射于所述钻石;S3、采集并存储不同角度光线照射钻石后形成的图像;S4、计算分析钻石的光学参数。 |
所属类别: |
发明专利 |