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一种提高调制探头测温精度的方法
| 专利名称： | 一种提高调制探头测温精度的方法 |
| 摘要： | 本发明提出了一种提高调制探头测温精度的方法，在调制探头探测温度时，不需 测量调制盘温度，不以调制盘温度为背景温度测量被测对象的温度，而是在探测被测 对象后，探测一个参考对象，根据探测参考对象的探头输出和参考对象温度，对探头 响应曲线进行校正，根据校正后的探头响应曲线计算被测对象的温度，可以消除调制 盘温度变化对调制探头测温精度的影响，提高调制探头测温精度，并避免了调制盘温 度测量误差的影响。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | 北京康拓红外技术有限公司 |
| 发明人： | 孙 庆;张 益;南振会;王新华;周立玮;曲 歌;朱 波 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2007-12-03T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200710178611.5 |
| 公开号： | CN101181902 |
| 分类号： | B61K9/04(2006.01)I |
| 申请人地址： | 100080北京市海淀区知春路61号9层 |
| 主权项： | 1、一种提高调制探头测温精度的方法，其特征在于，包括下列步骤： 步骤一：探头探测被测对象，取得探测被测对象的探头输出电压； 步骤二：探头在探测被测对象后探测参考对象，取得探测参考对象的探头输出电 压，并测量参考对象的温度； 步骤三：根据测得的参考对象的探头输出电压和对象温度，对探头响应曲线进行 平移校正； 步骤四：根据平移校正后的探头响应曲线计算被测对象的温度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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