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原文传递位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统

专利名称：	位置控制装置、位置控制方法以及超声波影像系统
摘要：	具备：存储部(37)，在使超声波探触部移动到n行线之前，存储超声波探触部(1)扫描试样表面的第n‑1行线时的、从发送超声波至接收到反射波的时间和基准时间的第n‑1行线的偏差；以及处理部(35)，根据该第n‑1行线的偏差，决定所述超声波探触部(1)扫描试样表面的第n行线时的所述超声波探触部(1)的位置，并且，在所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线时，计算从发送超声波至接收到反射波的时间和基准时间的第n行线的偏差。所述处理部(35)以使所述偏差成为零的方式，决定相对所述试样表面垂直的方向上的所述超声波探触部(1)的位置。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社日立电力解决方案
发明人：	村井正胜;大和谷直史;大贯和彦;黑泽一吉;乡俊匡
专利状态：	有效
申请日期：	2018-01-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201880008632.9
公开号：	CN110268258A
代理机构：	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：	程晨
分类号：	G01N29/07(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	日本茨城
主权项：	1.一种位置控制装置，其特征在于，具备：存储部，在使超声波探触部移动到n行线之前，存储超声波探触部扫描试样表面的第n-1行线时的、从发送超声波至接收到反射波为止的时间和基准时间的第n-1行线的偏差；以及处理部，根据该第n-1行线的偏差，决定所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线时的所述超声波探触部的位置，并且，在所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线时，计算从发送超声波至接收到反射波为止的时间和基准时间的第n行线的偏差。 2.根据权利要求1所述的位置控制装置，其特征在于，所述处理部针对以预定的时间间隔设定的每个测定点，计算所述偏差，将所述偏差存储到所述存储部。 3.根据权利要求1或者2所述的位置控制装置，其特征在于，所述处理部以使所述偏差成为零的方式，决定相对所述试样表面垂直的方向上的所述超声波探触部的位置。 4.根据权利要求1或者2所述的位置控制装置，其特征在于，所述处理部针对所述第n行线的每个测定点，以使在对应的第n-1行线的测定点计算出的所述第n-1行线的偏差成为零的方式，决定相对所述试样表面垂直的方向上的所述超声波探触部的位置。 5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的位置控制装置，其特征在于，所述处理部生成追踪选通，比较从所述追踪选通的始点至电压波形具有峰值为止的时间、和从所述追踪选通的始点至基准的电压波形具有峰值为止的时间，计算所述偏差。 6.一种位置控制方法，其特征在于，具备：存储超声波探触部扫描试样表面的第n-1行线时的、从发送超声波至接收到反射波为止的时间和基准时间的第n-1行线的偏差的步骤；使该超声波探触部移动到n行线的步骤；根据该第n-1行线的偏差，决定所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线时的所述超声波探触部的位置的步骤；以及计算所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线、并且从发送超声波至接收到反射波为止的时间和基准时间的第n行线的偏差的步骤。 7.根据权利要求6所述的位置控制方法，其特征在于，在存储所述偏差的步骤中，针对以预定的时间间隔设定的第n-1行线的每个测定点，计算所述第n-1行线的偏差，在决定所述超声波探触部的位置的步骤中，针对所述第n行线的每个测定点，以使对应的第n-1行线的测定点的所述第n-1行线的偏差成为零的方式，决定相对所述试样表面垂直的方向上的所述超声波探触部的位置。 8.一种超声波影像系统，其特征在于，具备：超声波探触部，向试样表面发送超声波，接收来自所述试样表面的反射波；位置控制装置，在使超声波探触部移动到n行线之前，存储所述超声波探触部扫描试样表面的第n-1行线时的、从发送超声波至接收到反射波为止的时间和基准时间的第n-1行线的偏差，根据该第n-1行线的偏差，决定所述超声波探触部扫描试样表面的第n行线时的所述超声波探触部的位置；以及控制装置，将所述超声波探触部的位置控制为所述位置控制装置决定的位置，在扫描第n行线时，所述位置控制装置计算从发送超声波至接收到反射波为止的时间和基准时间的第n行线的偏差。 9.根据权利要求8所述的超声波影像系统，其特征在于，所述位置控制装置针对以预定的时间间隔设定的第n-1行线的每个测定点，计算所述第n-1行线的偏差，针对与所述第n-1行线的测定点对应的第n行线的每个测定点，以使所述第n-1行线的偏差成为零的方式，决定所述超声波探触部的位置。
所属类别：	发明专利