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基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置
| 专利名称： | 基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置 |
| 摘要： | 本发明公开了基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，包括：包括：激光光源、扩束镜、第一透镜、第二透镜、第一平面平晶、第二平面平晶、半反半透镜、采集模块和电脑处理终端；所述激光光源、扩束镜、第一透镜、半反半透镜和第一平面平晶通过光线连接，所述采集模块与所述电脑处理终端电连接，所述半反半透镜与第一平面平晶之间设有检测场。本发明通过水平和竖直两个维度进行检测，得到待测气体的折射率梯度、密度梯度、密度分布以及温度分布，适用性更强，提高检测准确性，大大降低了检测工序。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 佛山科学技术学院 |
| 发明人： | 张新;李飞龙;孔嘉勇;刘诗媚;罗文华;蔡静 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-06-10T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-09-17T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910498041.0 |
| 公开号： | CN110243786A |
| 代理机构： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 |
| 代理人： | 谢泳祥 |
| 分类号： | G01N21/45(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 528000 广东省佛山市南海区狮山镇广云路33号 |
| 主权项： | 1.基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于，包括：激光光源、扩束镜、第一透镜、第二透镜、第一平面平晶、第二平面平晶、半反半透镜、采集模块和电脑处理终端； 所述激光光源、扩束镜、第一透镜、半反半透镜和第一平面平晶通过光线连接，所述采集模块与所述电脑处理终端电连接，所述半反半透镜与第一平面平晶之间设有检测场； 所述第一平面平晶沿竖直方向设置，所述第一平面平晶与垂直地面方向形成第一倾角θ1，所述第二平面平晶沿水平方向设置，所述第二平面平晶与水平地面方向形成第二倾角θ2； 所述激光光源发出的光束依次通过扩束镜、第一透镜和半反半透镜后，射入检测场，光束经过检测场后射入第一平面平晶，光束经过第一平面平晶后出射光射向检测场，透过检测场的光束被半反半透镜反射到第二平面平晶，第二平面平晶的出射光透过第二透镜射入采集模块。 2.根据权利要求1所述的基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于：所述第一倾角θ1为0°＜θ1≤1°。 3.根据权利要求1所述的基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于：所述第二倾角θ2为0°＜θ2≤15°。 4.根据权利要求1所述的基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于：所述激光光源为He-Ne激光器。 5.根据权利要求1所述的基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于：所述激光光源为二氧化碳激光器。 6.根据权利要求1所述的基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于：所述采集模块为相机。 7.根据权利要求1所述的基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，其特征在于：所述第一透镜和第二透镜为准直透镜。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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