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原文传递微粒检测器

专利名称：	微粒检测器
摘要：	本发明提供一种微粒检测器，其用于对气体中的微粒(26)进行检测。该微粒检测器(10)具备外壳(22)、电荷发生部(30)、捕集部(50)、噪声消除部(90)和个数检测部(60)。外壳具有气体通过的气体流路(24)。电荷发生部对导入至气体流路(24)内的气体中的微粒(26)附加因放电而产生的电荷(28)，从而使其成为带电微粒(P)。捕集部在气体流路(24)内设置于比电场发生部(30)靠近气流的下游侧的位置，对带电微粒(P)进行捕集。噪声消除部消除因电荷发生部(30)的放电而产生的噪声。个数检测部基于根据被捕集部(50)所捕集的带电微粒(P)而变化的物理量对微粒的数量进行检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	日本碍子株式会社
发明人：	奥村英正;菅野京一;水野和幸
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-27T00:00:00+0800
申请号：	CN201910187346.X
公开号：	CN110286079A
代理机构：	北京旭知行专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	王轶;李伟
分类号：	G01N15/10(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	日本国爱知县
主权项：	1.一种微粒检测器，用于对气体中的微粒进行检测，其中，所述微粒检测器具备：外壳，其具有供所述气体通过的气体流路；电荷发生部，其对导入至所述气体流路内的所述气体中的微粒附加因放电而产生的电荷，从而使其成为带电微粒；捕集部，其在所述气体流路内设置于比所述电荷发生部靠近所述气体的气流的下游侧的位置，并对捕集对象进行捕集，该捕集对象是所述带电微粒和未使所述微粒带电的剩余电荷的任一者；噪声消除部，其消除因所述电荷发生部的放电而发生的噪声；以及检测部，其基于根据被所述捕集部捕集的所述捕集对象而变化的物理量对所述微粒的数量进行检测。 2.根据权利要求1所述的微粒检测器，其中，对所述电荷发生部施加用于引起所述放电的正弦波电压或脉冲电压，对所述噪声消除部施加与所述正弦波电压或所述脉冲电压极性相反的正弦波电压或脉冲电压。 3.根据权利要求1或2所述的微粒检测器，其中，所述噪声消除部配置于所述电荷发生部和所述捕集部之间。 4.根据权利要求1或2所述的微粒检测器，其中，所述噪声消除部配置于与所述电荷发生部对置的位置。 5.根据权利要求1或2所述的微粒检测器，其中，所述噪声消除部配置于比所述捕集部靠近所述气体的气流的下游侧的位置。 6.一种微粒检测器，其是权利要求1～5中任意一项所述的微粒检测器，其中，作为所述捕集对象，所述捕集部捕集所述带电微粒，在所述电荷发生部和所述捕集部之间具备除去所述剩余电荷的剩余电荷除去部。
所属类别：	发明专利