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一种用于面密度测量仪的温度补偿方法
| 专利名称： | 一种用于面密度测量仪的温度补偿方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于面密度测量仪的温度补偿方法，在涂布机生产极片的过程中，面密度测量仪用于实时检测极片的面密度，在检测面密度的过程中，由于温度的影响对极片的面密度测量结果有较大影响，按以下步骤进行温度补偿以提高面密度测量仪的精确性；确定测量区的上空气层的计算温度Ts和下空气层的计算温度Tx；计算扫描测量区上空气层的密度ρs和下空气层的密度ρx；计算扫描测量区的面密度修正系数K2；得出极片上部需补偿的面密度M1bs和极片下部需补偿的面密度M1bx；步骤5：得出测量仪最终经温度补偿后所测极片的面密度M。本发明通过在面密度的计算方法上进行温度补偿，提高了测量精度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河南;41 |
| 申请人： | 开封市测控技术有限公司 |
| 发明人： | 张立功;葛学海;陈鹏;李铮;张钰洋;白云飞;曹夙 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-05T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-10-08T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910717584.7 |
| 公开号： | CN110308069A |
| 代理机构： | 郑州大通专利商标代理有限公司 |
| 代理人： | 张立强 |
| 分类号： | G01N9/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N9 |
| 申请人地址： | 475004 河南省开封市金明大道南段 |
| 主权项： | 1.一种用于面密度测量仪的温度补偿方法，其特征在于， 在涂布机生产极片的过程中，面密度测量仪用于实时检测极片的面密度，在检测面密度的过程中，由于温度的影响对极片的面密度测量结果有较大影响，按以下步骤进行温度补偿以提高面密度测量仪的精确性； 步骤1：确定测量区的上空气层的计算温度Ts和下空气层的计算温度Tx； 步骤2：计算扫描测量区上空气层的密度ρs和下空气层的密度ρx； 步骤3：计算扫描测量区的面密度修正系数K2； 步骤4：得出极片上部需补偿的面密度M1bs和极片下部需补偿的面密度M1bx；计算公式如下： M1bs=K1s*K2(ρ0-ρs) （4.1） M1bx=K1x*K2(ρ0-ρx) （4.2） 其中，K1s 是面密度的修正系数，K1x是密度的修正系数； 步骤5：得出测量仪最终经温度补偿后所测极片的面密度M； M=Mc+M1bs +M1bx（5.1） 其中，Mc为由测量仪实测的极片的面密度。 2.根据权利要求1所述的一种用于面密度测量仪的温度补偿方法，其特征在于，所述步骤1具体包括： 采用红外测温传感器检测极片的温度均值Tav，同时测得扫描测量区上空气层的温度均值Tsav和下空气层的温度均值Txav；通过下式进行计算： Ts= Tav –(Tav -Tsav)/2 （1.1） Tx= Tav–(Tav –Txav)/2 （1.2）。 3.根据权利要求1所述的一种用于面密度测量仪的温度补偿方法，其特征在于，所述步骤2具体包括： 采用空气密度传感器检测测量头在0℃时的空气密度值ρb，同时检测零位跟踪处空气的密度测量值ρ0和空气层温度均值T0；通过下式进行计算： ρs=ρb*273/(273+Ts) （2.1） ρx=ρb*273/(273+Tx) （2.2）。 4.根据权利要求1所述的一种用于面密度测量仪的温度补偿方法，其特征在于，所述修正系数K2的计算公式如下： K2=(273+Tav) /(273+T) （3.1）。 5.根据权利要求1所述的一种用于面密度测量仪的温度补偿方法，其特征在于，在步骤5之后，通过在现场和实验室对得到的面密度进行分析验证，以确定该温度补偿方法的准确性。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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