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原文传递密度继电器、弹簧管和温度补偿元件的匹配、测试方法

专利名称：	密度继电器、弹簧管和温度补偿元件的匹配、测试方法
摘要：	本发明公开了一种密度继电器、弹簧管和温度补偿元件的匹配、测试方法，将各弹簧管安装在具有额定压力的弹簧管测试装置中进行压力‑位移测试，以获得各弹簧管需要补偿的指针指示压力值；将各温度补偿元件安装在温度补偿元件测试装置中，将安装有温度补偿元件的温度补偿元件测试装置浸入加热装置中进行温度‑位移测试，以获得实际补偿的指针指示压力值；弹簧管组中的每一个弹簧管和温度补偿元件组中的每一个温度补偿元件进行配对，使得当气室内气体温度变化时，温度的变化也会使得补偿元件由于热变形而总长变化，且该变化值与温度变化引起的压力变量在弹簧管的管端所形成的压力位移相等，使密度继电器的扇齿、齿轮及指针保持不动，完成温度补偿。
专利类型：	发明专利
申请人：	朗松珂利(上海)仪器仪表有限公司
发明人：	张少平
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T23:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T10:00:00+0805
申请号：	CN201911335177.6
公开号：	CN110987724A
代理机构：	上海音科专利商标代理有限公司
代理人：	孙静
分类号：	G01N9/26;G01L7/04;G01L19/04;H01H35/28;G;H;G01;H01;G01N;G01L;H01H;G01N9;G01L7;G01L19;H01H35;G01N9/26;G01L7/04;G01L19/04;H01H35/28
申请人地址：	201108 上海市闵行区金都路3679弄50号
主权项：	1.一种密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，选择同一规格的多个弹簧管，将各所述弹簧管安装在具有额定压力的弹簧管测试装置中进行压力-位移测试，以获得在所述额定压力下，且从第一恒温t1上升到第二恒温t2时各所述弹簧管需要补偿的指针指示压力值；并将所述多个弹簧管按照所述需要补偿的指针指示压力值的大小依次排列形成弹簧管组；其中，所述弹簧管测试装置的所述额定压力与待使用的密度继电器的额定压力相同；选择同一规格，且与所述弹簧管的数目匹配的多个温度补偿元件，将各所述温度补偿元件安装在温度补偿元件测试装置中，将安装有所述温度补偿元件的所述温度补偿元件测试装置浸入加热装置中进行温度-位移测试，以获得在所述加热装置的温度从所述第一恒温t1上升到所述第二恒温t2且各所述温度补偿元件达到热平衡时各所述温度补偿元件实际补偿的指针指示压力值，并将多个所述温度补偿元件按照所述实际补偿的指针指示压力值大小依次排列形成温度补偿元件组；所述弹簧管组中的每一个所述弹簧管和所述温度补偿元件组中的每一个所述温度补偿元件按照第一阈值进行配对：当所述弹簧管的所述需要补偿的指针指示压力值和所述温度补偿元件的所述实际补偿的指针指示压力值的差值小于所述第一阈值时，设定所述弹簧管与所述温度补偿元件配对；其中，所述第一阈值为0.01Mpa；所述第一恒温t1为20摄氏度，所述第二恒温t2为60摄氏度。 2.如权利要求1所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，所述密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法还包括对配对的所述弹簧管和所述温度补偿元件的校验，包括以下步骤：设定所述弹簧管与所述温度补偿元件配对后，将配对的所述弹簧管和所述温度补偿元件进行整机组装获得待使用的密度继电器，且所述待使用的密度继电器的温度从所述第一恒温t1上升至所述第二恒温t2后，对所述待使用的密度继电器进行读表：若读表结果大于或等于第一变化阈值且小于或等于第二变化阈值，则认定所述弹簧管和所述温度补偿元件的配对精度在正常范围内；若所述读表结果小于所述第一变化阈值则认定所述弹簧管和所述温度补偿元件配对精度超出所述正常范围内，且此时所述待使用的密度继电器处于欠补状态；若所述读表结果大于所述第二变化阈值，则认定所述弹簧管和所述温度补偿元件配对精度超出所述正常范围内，且此时所述待使用的密度继电器处于过补状态；其中，所述第一变化阈值为-0.01Mpa，所述第二变化阈值为+0.01Mpa。 3.如权利要求2所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，若所述待使用的密度继电器处于所述欠补状态，将所述弹簧管组中的每一个所述弹簧管和与所述弹簧管对应的所述温度补偿元件组中的后一个所述温度补偿元件进行配对；若所述待使用的密度继电器处于所述过补状态，将所述弹簧管组中的每一个所述弹簧管和与所述弹簧管对应的所述温度补偿元件组中的前一个所述温度补偿元件进行配对；其中，所述温度补偿元件组中的所述多个温度补偿元件的实际补偿的指针指示压力值从前往后依次增加。 4.如权利要求1所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，将各所述弹簧管安装在所述弹簧管测试装置中进行压力-位移测试包括以下步骤：首先将各所述弹簧管安装在所述弹簧管测试装置中，所述弹簧管测试装置为将密度继电器的弹簧管移除且将所述密度继电器的温度补偿元件替换为刚度不可变的拉杆后获得的装置，其中，所述密度继电器与所述待使用的密度继电器规格一致；然后施加实际压力P实使所述弹簧管测试装置的指针从度盘的零位旋转到所述度盘的测量上限P量，并记录所述实际压力P实；所述弹簧管测试装置的所述额定压力用P额表示，且六氟化硫气体从所述第一恒温t1上升到所述第二恒温t2时，每个所述弹簧管需要补偿的指针的指示压力值为：其中：△P额为在所述额定压力P额下，六氟化硫气体从所述第一恒温t1上升到所述第二恒温t2时的压力增量；△P管补为所述需要补偿的指针指示压力值。 5.如权利要求4所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，其特征在于， △P额＝(56.2rT2(1+B)-r2A)-(56.2rT1(1+B)-r2A)；其中，A＝74.9(1-0.72710-3r)；B＝2.5110-3r(1-0.84610-3r)；其中T1和T2为开尔文温度，且T1＝t1+273.15＝293.15K；T2为＝t2+273.15＝333.15K；r为六氟化硫气体的密度。 6.如权利要求5所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，在将各所述弹簧管安装在所述弹簧管测试装置中之前，将与所述温度补偿元件相同长度及配合尺寸的压力表拉杆铰接安装于所述弹簧管测试装置的机芯尾槽的预设位置与所述弹簧管的自由端的管座之间。 7.如权利要求6所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，所述弹簧管测试装置的指针从所述度盘的零位旋转到所述度盘的测量上限P量的二分之一时，设置所述压力表拉杆与所述机芯尾槽的长度延伸方向垂直。 8.如权利要求1所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，将多个各所述温度补偿元件安装在所述温度补偿元件测试装置中，并将安装有所述温度补偿元件的所述温度补偿元件测试装置浸入所述加热装置中进行温度-位移测试具体包括以下步骤： S1：将各所述温度补偿元件安装在所述温度补偿元件测试装置中，然后将各所述温度补偿元件分别浸入所述加热装置中，所述加热装置设定为第一恒温t1，并保持预设时长使得各所述温度补偿元件达到热平衡后，观察并记录所述温度补偿元件测试装置的指针在度盘上的所述实际补偿的指针指示压力值P元20； S2：然后将各所述温度补偿元件分别浸入所述加热装置中，所述加热装置设定为所述第二恒温t2，并保持所述预设时长使得各所述温度补偿元件达到热平衡后，观察并记录所述温度补偿元件测试装置的指针在度盘上的所述实际补偿的指针指示压力值P元60； S3：每个所述温度补偿元件的所述实际补偿的指针的指示压力值为：△P元补＝P元20-P元60。 9.如权利要求8所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，所述加热装置包括设定为所述第一恒温t1的油槽和设置为所述第二恒温t2的油槽。 10.如权利要求8所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法，其特征在于，所述温度补偿元件测试装置为将密度继电器的温度补偿元件移除且将弹簧管替换为刚度不可变的拉杆后获得的装置，所述密度继电器与所述待使用的密度继电器规格一致；在执行步骤S1前，将所述温度补偿元件的一端处于所述温度补偿元件测试装置的机芯尾槽的预设位置，且使所述温度补偿元件与所述机芯尾槽垂直。 11.一种密度继电器，包括弹簧管和温度补偿元件，其特征在于，所述密度继电器通过如权利要求1-10任一项所述的密度继电器的弹簧管和温度补偿元件的匹配方法获得相匹配的所述弹簧管和所述温度补偿元件。 12.一种密度继电器的弹簧管压力-位移测试方法，其特征在于，将多个弹簧管安装在弹簧管测试装置中进行压力-位移测试，包括以下步骤：首先将多个所述弹簧管安装在所述弹簧管测试装置中；然后施加实际压力P实使所述弹簧管测试装置的指针从度盘的零位旋转到所述度盘的测量上限P量，并记录所述实际压力P实；所述弹簧管测试装置的压力为额定压力P额，且六氟化硫气体从第一恒温t1上升到第二恒温t2时，所述弹簧管需要补偿的指针的指示压力值△P管补为：其中：△P额为在所述额定压力P额下，六氟化硫气体从所述第一温度t1上升到所述第二温度t2时的压力增量； t1为20摄氏度，t2为60摄氏度。 13.如权利要求12所述的密度继电器的弹簧管压力-位移测试方法，其特征在于， △P额＝(56.2rT2(1+B)-r2A)-(56.2rT1(1+B)-r2A)；其中，A＝74.9(1-0.72710-3r)；B＝2.5110-3r(1-0.84610-3r)；其中T1和T2为开尔文温度，且T1＝t1+273.15＝293.15K；T2为＝t2+273.15＝333.15K；r为六氟化硫气体的密度。 14.一种密度继电器的温度补偿元件温度-位移测试方法，其特征在于，将多个温度补偿元件安装在温度补偿元件测试装置中，并将安装有所述温度补偿元件的所述温度补偿元件测试装置浸入加热装置中进行温度-位移测试，具体包括以下步骤： S1：将各所述温度补偿元件安装在所述温度补偿元件测试装置中，然后将各所述温度补偿元件分别浸入所述加热装置中，所述加热装置设定为第一恒温t1，并保持预设时长使得各所述温度补偿元件达到热平衡后，观察并记录所述温度补偿元件测试装置的指针在度盘上的实际补偿的指针指示压力值P元20； S2：然后将各所述温度补偿元件分别浸入所述加热装置中，所述加热装置设定为第二恒温t2，并保持所述预设时长使得各所述所述温度补偿元件达到热平衡后，观察并记录所述温度补偿元件测试装置的指针在度盘上的所述实际补偿的指针指示压力值P元60； S3：每个所述温度补偿元件的所述实际补偿的指针的指示压力值为：△P元补＝P元20-P元60；其中，t1为20摄氏度，t2为60摄氏度。
所属类别：	发明专利