专利名称: |
吸水性树脂结构的非破坏评价方法 |
摘要: |
本发明提供一种可以合适用于为了控制吸水性树脂的各物性的吸水性树脂结构的非破坏评价方法。本发明的吸水性树脂结构的非破坏评价方法是通过X射线计算机断层成像法,非破坏地评价吸水性树脂结构的方法,其具备:在X射线计算机断层成像装置的试样台上,设置作为评价对象的所述吸水性树脂的工序1;使用上述X射线计算机断层成像装置,进行所述吸水性树脂的X射线计算机断层成像,取得所述吸水性树脂的截面图像数据的工序2;和,使用图像分析软件,分析所述断层图像数据,获得所述吸水性树脂的截面图像的工序3。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
住友精化株式会社 |
发明人: |
千叶实季人;小野田裕一 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-03-02T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-11T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201880013520.2 |
公开号: |
CN110325845A |
代理机构: |
北京汇思诚业知识产权代理有限公司 |
代理人: |
龚敏;王刚 |
分类号: |
G01N23/046(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
日本国兵库县加古郡播磨町宫西346番地之1 |
主权项: |
1.一种吸水性树脂结构的非破坏评价方法,是通过X射线计算机断层成像法,非破坏地评价吸水性树脂结构的方法,其具备: 在X射线计算机断层成像装置的试样台上,设置作为评价对象的所述吸水性树脂的工序1, 使用上述X射线计算机断层成像装置,进行所述吸水性树脂的X射线计算机断层成像,取得所述吸水性树脂的截面图像数据的工序2,和 使用图像分析软件,分析所述断层图像数据,获得所述吸水性树脂的截面图像的工序3。 2.根据权利要求1所述的吸水性树脂结构的非破坏评价方法,其特征在于,所述方法具备: 使用图像处理软件,从上述吸水性树脂的所述截面图像,测定所述吸水性树脂的树脂部分的总截面面积(A),和所述吸水性树脂的空洞部分的总截面面积(B)的工序4a,和 通过下式(I)算出所述吸水性树脂的空洞面积率的工序5, 空洞面积率[%]={吸水性树脂的空洞部分的总截面面积(B)/(吸水性树脂的树脂部分的总截面面积(A)+吸水性树脂的空洞部分的总截面面积(B))}×100…(I)。 3.根据权利要求1所述的吸水性树脂结构的非破坏评价方法,其特征在于,所述方法具备: 使用图像处理软件,从上述吸水性树脂的所述截面图像,测定所述吸水性树脂的树脂部分的总截面面积(A),和填埋所述吸水性树脂的截面空洞的截面面积(C)的工序4b-1, 从所述截面面积(C)中减去所述总截面面积(A),算出所述吸水性树脂的空洞部分的总截面面积(B)的工序4b-2,和 通过下式(I)算出所述吸水性树脂的空洞面积率的工序5, 空洞面积率[%]={吸水性树脂的空洞部分的总截面面积(B)/(吸水性树脂的树脂部分的总截面面积(A)+吸水性树脂的空洞部分的总截面面积(B))}×100…(I)。 4.根据权利要求1~3中任一项所述的吸水性树脂结构的非破坏评价方法,其特征在于,成为评价对象的所述吸水性树脂的形状是颗粒状、近似球状、不规则形状的破碎状、板状、近似球状粒子凝集而成的形状、或不规则形状的破碎状粒子凝集而成的形状。 5.一种吸水性树脂的筛选方法,其是筛选用于吸收体的吸水性树脂的方法,通过具备下述工序的非破坏地评价吸水性树脂的结构,选择用于吸收体的吸水性树脂: 在X射线计算机断层成像装置的试样台上,设置作为评价对象的所述吸水性树脂的工序1, 使用上述X射线计算机断层成像装置,进行所述吸水性树脂的X射线计算机断层成像,取得所述吸水性树脂的截面图像数据的工序2,和 使用图像分析软件,分析所述断层图像数据,获得所述吸水性树脂的截面图像的工序3。 |
所属类别: |
发明专利 |