专利名称: |
采用衍射检测器的样本检查设备 |
摘要: |
一种样本检查设备(100)以圆锥壳(112)的X光或类似辐射照射样本(110),用于从样本(110)上的圆形路径(122)产生多个德拜环。该设备(100)设置有两个检测器(1400,1402);第一检测器(1400)接收衍射辐射,且第二检测器(1402)接收通过在第一检测器(1400)的检测表面处设置的编码孔径(1404)传送的辐射。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
英国;GB |
申请人: |
诺丁汉特伦特大学 |
发明人: |
P·埃文斯;K·罗杰斯 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-02-22T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-11T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201880014087.4 |
公开号: |
CN110325846A |
代理机构: |
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
成丽杰 |
分类号: |
G01N23/20008(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
英国诺丁汉郡诺丁汉市 |
主权项: |
1.一种样本检查设备,包括: 电磁辐射源; 射束形成准直仪,用于产生基本上圆锥壳的辐射, 第一辐射检测器,被设置成在圆锥壳射束入射到待检样本上之后接收衍射辐射; 编码孔径,设置在所述第一辐射检测器的检测表面处;以及 范围检测器,被设置成收集通过所述编码孔径传送的辐射。 2.根据权利要求1所述的样本检查设备,其中所述编码孔径被设置在期待形成辐射热点的点处。 3.根据权利要求1或权利要求2所述的样本检查设备,其中所述编码孔径被设置在沿着所述设备的对称轴的位置处。 4.根据权利要求1所述的样本检查设备,包括:提供多个孔径的编码孔径罩;以及中央遮蔽物,设置在所述编码孔径罩的一个或更多个孔径处,以消除杂散照射。 5.根据以上权利要求中任一项所述的样本检查设备,包括用于存储和分析由所述第一辐射检测器和/或所述范围检测器所收集的数据的系统。 6.根据以上权利要求中任一项所述的样本检查设备,其中所述编码孔径和所述第一辐射检测器被集成。 7.根据以上权利要求中任一项所述的样本检查设备,其中孔径的主体包括成角度的侧壁,所述侧壁朝向中心点变细。 |
所属类别: |
发明专利 |