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原文传递采用衍射检测器的样本检查设备

专利名称：	采用衍射检测器的样本检查设备
摘要：	一种样本检查设备(100)以圆锥壳(112)的X光或类似辐射照射样本(110)，用于从样本(110)上的圆形路径(122)产生多个德拜环。该设备(100)设置有两个检测器(1400，1402)；第一检测器(1400)接收衍射辐射，且第二检测器(1402)接收通过在第一检测器(1400)的检测表面处设置的编码孔径(1404)传送的辐射。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	英国;GB
申请人：	诺丁汉特伦特大学
发明人：	P·埃文斯;K·罗杰斯
专利状态：	有效
申请日期：	2018-02-22T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-11T00:00:00+0800
申请号：	CN201880014087.4
公开号：	CN110325846A
代理机构：	上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	成丽杰
分类号：	G01N23/20008(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	英国诺丁汉郡诺丁汉市
主权项：	1.一种样本检查设备，包括：电磁辐射源；射束形成准直仪，用于产生基本上圆锥壳的辐射，第一辐射检测器，被设置成在圆锥壳射束入射到待检样本上之后接收衍射辐射；编码孔径，设置在所述第一辐射检测器的检测表面处；以及范围检测器，被设置成收集通过所述编码孔径传送的辐射。 2.根据权利要求1所述的样本检查设备，其中所述编码孔径被设置在期待形成辐射热点的点处。 3.根据权利要求1或权利要求2所述的样本检查设备，其中所述编码孔径被设置在沿着所述设备的对称轴的位置处。 4.根据权利要求1所述的样本检查设备，包括：提供多个孔径的编码孔径罩；以及中央遮蔽物，设置在所述编码孔径罩的一个或更多个孔径处，以消除杂散照射。 5.根据以上权利要求中任一项所述的样本检查设备，包括用于存储和分析由所述第一辐射检测器和/或所述范围检测器所收集的数据的系统。 6.根据以上权利要求中任一项所述的样本检查设备，其中所述编码孔径和所述第一辐射检测器被集成。 7.根据以上权利要求中任一项所述的样本检查设备，其中孔径的主体包括成角度的侧壁，所述侧壁朝向中心点变细。
所属类别：	发明专利