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原文传递 一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置
专利名称: 一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置
摘要: 本实用新型提供了一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置,包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机,所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜,所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件表面以形成信号光,所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜,所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像,所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置,以精确的检测非标高反射曲面工件表面的缺陷,且解决了在图像采集的时候容易发生眩光导致采集的图像过饱和以及检测的分辨率不可控的问题。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 广西;45
申请人: 桂林电子科技大学
发明人: 徐韶华;张文涛;张丽娟;石红强;秦祖军;王伟
专利状态: 有效
申请日期: 2018-12-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-10-11T00:00:00+0800
申请号: CN201822244083.5
公开号: CN209486002U
代理机构: 北京中济纬天专利代理有限公司
代理人: 石燕妮
分类号: G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 541004 广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号
主权项: 1.一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置,其特征在于,包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机,所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜,所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件的表面以形成信号光,所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜,所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像,所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置。 2.如权利要求1所述的非标高反射曲面工件的缺陷检测装置,其特征在于,当所述非标高反射曲面工件的表面没有缺陷时,所述检测图像上具有若干平行的直条纹;当所述非标高反射曲面工件的表面具有缺陷时,所述检测图像上对应缺陷部分的条纹产生弯曲变形。 3.如权利要求1所述的非标高反射曲面工件的缺陷检测装置,其特征在于,所述云纹条纹光束由若干明暗相间的条纹构成,相邻两个条纹之间的间距相等,通过调整所述条纹的间距调整检测的分辨率。 4.如权利要求3所述的非标高反射曲面工件的缺陷检测装置,其特征在于,所述分辨率大于或等于相邻两个条纹之间的间距的两倍。 5.如权利要求1所述的非标高反射曲面工件的缺陷检测装置,其特征在于,所述计算机包括依次连接的图像预处理模块、图像特征增强模块、缺陷特征提取模块、伪缺陷剔除模块及标注模块。
所属类别: 实用新型
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