专利名称: |
目标试条识别方法及系统 |
摘要: |
本发明提供一种目标试条识别方法及系统,其中目标试条识别方法包括:检测所述工作电极的电阻值获得第一电阻值,及所述识别电极的电阻值获得第二电阻值;将所述第一电阻值与所述第二电阻值作比获得电阻比值;将所述电阻比值与目标试条预设值进行比较,当所述电阻比值与所述目标试条预设值相符时,所述目标试条预设值所对应的试条即为目标试条。本发明的一种目标试条识别方法及系统,通过试条上的电阻比值获得目标试条,简化了检测过程,提高了工作效率及检测精度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京怡成生物电子技术股份有限公司 |
发明人: |
郭旻;吴家永;宋鹏 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-07-28T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-11T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910685729.X |
公开号: |
CN110320241A |
代理机构: |
北京汉鼎理利专利代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
潘满根 |
分类号: |
G01N27/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号M2号楼5层 |
主权项: |
1.一种目标试条识别方法,其特征在于, 所述试条包括载体(1)及设置于所述载体上的工作电极(2)、识别电极(3),所述目标试条识别方法包括: 检测所述工作电极(2)的电阻值获得第一电阻值,及所述识别电极(3)的电阻值获得第二电阻值; 将所述第一电阻值与所述第二电阻值作比获得电阻比值; 将所述电阻比值与目标试条预设值进行比较,当所述电阻比值与所述目标试条预设值相符时,所述目标试条预设值所对应的试条即为目标试条。 2.根据权利要求1所述的目标试条识别方法,其特征在于,还包括: 将获得电阻比值与试条校正参数所对应的预设电阻比值进行比较,当所述电阻比值与所述预设电阻比值相符时,所述预设电阻比值所对应的试条校正参数即为试条校正参数。 3.根据权利要求2所述的目标试条识别方法,其特征在于,在获取到所述目标试条或者试条校正参数后,还包括结果提示步骤,所述结果提示步骤用于将获取到的目标试条或者试条校正参数进行展示。 4.根据权利要求3所述的目标试条识别方法,其特征在于,所述结果提示步骤用于将获取到的目标试条或者试条校正参数进行展示步骤中,通过声音提示或者屏幕显示提示的方式展示。 5.一种目标试条识别系统,其特征在于, 所述试条包括载体(1)及设置于所述载体上的工作电极(2)、识别电极(3),所述目标试条识别系统包括: 检测单元,用于检测所述工作电极(2)的电阻值获得第一电阻值,及所述识别电极(3)的电阻值获得第二电阻值; 比值计算单元,用于将所述第一电阻值与所述第二电阻值作比获得电阻比值; 试条确定单元,用于将所述电阻比值与目标试条预设值进行比较,当所述电阻比值与所述目标试条预设值相符时,所述目标试条预设值所对应的试条即为目标试条。 6.根据权利要求5所述的目标试条识别系统,其特征在于,还包括校正参数确定单元,用于将获得电阻比值与试条校正参数所对应的预设电阻比值进行比较,当所述电阻比值与所述预设电阻比值的差值相符时,所述预设电阻比值所对应的试条校正参数即为试条校正参数。 7.根据权利要求6所述的目标试条识别系统,其特征在于,还包括结果提示单元,用于在获取到所述目标试条或者试条校正参数后,将获取到的目标试条或者试条校正参数进行展示。 8.根据权利要求7所述的目标试条识别系统,其特征在于,所述结果提示单元通过声音提示或者屏幕显示提示的方式展示获取到的目标试条或者试条校正参数。 |
所属类别: |
发明专利 |