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原文传递 一种基于紫外光的检查装置
专利名称: 一种基于紫外光的检查装置
摘要: 一种基于紫外光的检查装置,装置包括装置本体、设置在所述装置本体前端的紫外光镜头、设置在所述紫外光镜头周边的紫外灯、设置在所述装置本体内部的控制芯片、设置在所述装置本体后端的信息传输接口。本实用新型的基于紫外光的检查装置,通过设置紫外灯发出紫外光以提供光源,并通过所设置的紫外光镜头采集紫外光环境下的图像信息,基于所采集到的图像信息可对细微裂缝进行识别,避免自然光对所采集到的图像信息产生干扰,提高了采集得到的图像信息的清晰度,且大幅提高了在复杂环境下对图像信息进行采集的效率,在实际应用过程中取得了良好的效果。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 深圳湘聚电子科技有限公司
发明人: 王平喜;杨门弟
专利状态: 有效
申请日期: 2019-01-16T00:00:00+0800
发布日期: 2019-10-15T00:00:00+0800
申请号: CN201920067270.2
公开号: CN209495977U
代理机构: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人: 汤东凤
分类号: G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道和堪村二区19-20号303
主权项: 1.一种基于紫外光的检查装置,其特征在于,所述装置包括装置本体、设置在所述装置本体前端的紫外光镜头、设置在所述紫外光镜头周边的紫外灯、设置在所述装置本体内部的控制芯片、设置在所述装置本体后端的信息传输接口。 2.根据权利要求1所述的基于紫外光的检查装置,其特征在于,所述紫外灯的数量为2-8个。 3.根据权利要求1所述的基于紫外光的检查装置,其特征在于,所述紫外灯发光的波长为385nm-405nm。 4.根据权利要求1所述的基于紫外光的检查装置,其特征在于,所述控制芯片分别与所述信息传输接口、所述紫外光镜头及所述紫外灯相连接。 5.根据权利要求1所述的基于紫外光的检查装置,其特征在于,所述控制芯片为MCU芯片。
所属类别: 实用新型
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