详情

原文传递一种新型光学元件损伤测试方法及装置

专利名称：	一种新型光学元件损伤测试方法及装置
摘要：	本发明涉及光学元件损伤测试技术领域，尤其涉及一种新型光学元件损伤测试方法及装置。根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三；由所述成像光源一生成元件表面损伤图像；由所述成像光源二生成元件表面图像；由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像；根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图，并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。本发明不仅能够清晰的区分出光学元件表面异物或损伤，而且能够得到详细的损伤区分图，降低对光学元件的维护困难程度，减少光学元件的维护成本。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	衡阳师范学院
发明人：	戴志平
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201910741078.1
公开号：	CN110346381A
代理机构：	北京汇彩知识产权代理有限公司
代理人：	董丽萍
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	421008 湖南省衡阳市珠晖区衡花路16号(东校区)
主权项：	1.一种新型光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述方法包括： S01：根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三； S02：由所述成像光源一生成元件表面损伤图像； S03：由所述成像光源二生成元件表面图像； S04：由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像； S05：根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图，并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。 2.根据权利要求1所述的一种新型光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述的根据所述泵浦光获取所述成像光源一、所述成像光源二和所述成像光源三包括：由单一光源泵浦光通过转换模块同时获取所述成像光源一、所述成像光源二和所述成像光源三。 3.根据权利要求1所述的一种新型光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述成像光源一包括两束泵浦光，且两束泵浦光分别从待测光学元件的两端同时射入，系统根据所述两束泵浦光的反射情况生成所述元件表面损伤图像。 4.根据权利要求1所述的一种新型光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述成像光源二为所述泵浦光通过分光装置得到的，所述成像光源二经过反射成像后，系统根据所述成像光源二的反射成像生成所述元件表面图像。 5.根据权利要求1所述的一种新型光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述成像光源三为所述泵浦光通过分光装置和聚焦装置后生成的，所述成像光源三经过反射成像后，系统根据所述成像光源三的反射成像生成所述元件表面细节图像。 6.根据权利要求1所述的一种新型光学元件损伤测试装置，其特征在于，所述装置包括：成像光源生成模块：根据泵浦光获取成像光源一、成像光源二和成像光源三；第一生成模块：由所述成像光源一生成元件表面损伤图像；第二生成模块：由所述成像光源二生成元件表面图像；第三生成模块：由所述成像光源三生成多张元件表面细节图像；图像生成模块：根据所述元件表面损伤图像、所述元件表面图像、所述元件表面细节图像生成元件损伤整体图，并对所述元件损伤整体图上的损伤部位进行标记显示。 7.根据权利要求6所述的一种新型光学元件损伤测试方法，其特征在于，所述成像光源生成模块包括多个分光片、聚焦装置、和正透镜，所述成像光源生成模块将泵浦光分割成所述成像光源一、所述成像光源二和所述成像光源三。
所属类别：	发明专利