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原文传递一种晶粒数据获取的方法及系统

专利名称：	一种晶粒数据获取的方法及系统
摘要：	本发明公开了一种晶粒数据获取的方法及系统，涉及材料金相表征技术领域，包括：获取材料的金相图像；对所述金相图像中每个完整的晶粒所在的区域进行颜色填充，获得颜色填充后的金相图像；根据所述颜色填充后的金相图像，获取晶粒信息；基于所述晶粒信息，获取晶粒数据；由于颜色填充是属于图像处理方法，可以一次性实现大量图像的处理，填充不同颜色的且相邻两个所述晶粒所在的区域填充的颜色不同的金相图像，可根据颜色进行快速的晶粒分类提取晶粒信息，并根据晶粒信息，快速获取晶粒信息对应的晶粒数量，从而快速统计出晶粒数据，相对于现有技术，大大提高了数据获取的效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉科技大学
发明人：	徐耀文;周靓;鲍思前;杨庚蔚;肖欢;叶传龙;赵刚
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201910612442.4
公开号：	CN110361385A
代理机构：	北京众达德权知识产权代理有限公司
代理人：	刘杰
分类号：	G01N21/84(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430080 湖北省武汉市青山区和平大道947号
主权项：	1.一种晶粒数据获取的方法，其特征在于，所述方法包括：获取材料的金相图像；对所述金相图像中每个完整的晶粒所在的区域进行颜色填充，获得颜色填充后的金相图像；其中，相邻两个所述晶粒所在的区域填充的颜色不同；根据所述颜色填充后的金相图像，获取晶粒信息；基于所述晶粒信息，获取晶粒数据。 2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取材料的金相图像，包括：通过金相显微镜获取所述材料的样品的金相图像；其中，所述样品经过研磨、抛光和腐蚀处理。 3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述颜色包括N种，其中N为大于等于4的正整数。 4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述颜色填充后的金相图像，获取晶粒信息，包括：从所述颜色填充后的金相图像中选取第n种颜色的晶粒，其中，n＝1，2…N；获取所述第n种颜色的晶粒信息，其中，所述晶粒信息包括直径、面积、长短轴及其比率、长轴偏离角度、几何中心、周长中的一种或多种。 5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述晶粒信息，获取晶粒数据，包括：分别统计第n种颜色的晶粒信息，获得晶粒信息所对应的晶粒占总晶粒的比例。 6.一种晶粒数据获取的系统，其特征在于，所述系统包括：图像获取模块，用于获取材料的金相图像；颜色填充模块，用于对所述金相图像中每个完整的晶粒所在的区域进行颜色填充，获得颜色填充后的金相图像；其中，相邻两个所述晶粒所在的区域填充的颜色不同；晶粒信息获取模块，用于根据所述颜色填充后的金相图像，获取晶粒信息；晶粒数据获取模块，用于基于所述晶粒信息，获取晶粒数据。 7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述晶粒信息获取模块，包括：筛选模块，用于从所述述颜色填充后的金相图像中选取第n种颜色的晶粒，其中，n＝1，2…N；获取模块，用于获取所述第n种颜色的晶粒信息，其中，所述晶粒信息包括直径、面积、长短轴及其比率、长轴偏离角度、几何中心、周长中的一种或多种。 8.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-5任一项所述方法的步骤。 9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-5任一项所述方法的步骤。
所属类别：	发明专利