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原文传递一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统

专利名称：	一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统
摘要：	本实用新型公开了一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统，包括照射光源、抛物面反射镜组、样品台、金属纳米针、大口径抛物面反射镜、平面反射镜组、抛物面反射镜、探测器；待测样品置于该样品台上，金属纳米针置于该待测样品上方；照射光源发出的光经过抛物面反射镜组先准直成平行光，再汇聚到样品台的下方，光从样品台透射到待测样品上，再从金属纳米针尖处激发出散射信号，散射信号经放置在其上方的大口径抛物面反射镜收集，并准直输出，准直输出的光再经过平面反射镜组入射到抛物面反射镜，最终将信号汇聚到探测器上。本实用新型实现了宽波段的近场信号的产生及散射信号提取。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	华中光电技术研究所(中国船舶重工集团有限公司第七一七研究所)
发明人：	姚远;耿安兵;邹勇华;章侃;袁英豪;郭劼;周正;李渊
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201822274520.8
公开号：	CN209542447U
代理机构：	湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人：	许美红
分类号：	G01N21/47(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430223 湖北省武汉市洪山区雄楚大街981号
主权项：	1.一种基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，包括照射光源、抛物面反射镜组、金属纳米针、样品台、大口径抛物面反射镜、平面反射镜组、抛物面反射镜、探测器；待测样品置于该样品台上，金属纳米针置于该待测样品上方；照射光源发出的光经过抛物面反射镜组先准直成平行光，再汇聚到样品台的下方，光从样品台透射到待测样品上，再从金属纳米针尖处激发出散射信号，散射信号经放置在其上方的大口径抛物面反射镜收集，并准直输出，准直输出的光再经过平面反射镜组入射到抛物面反射镜，最终将信号汇聚到探测器上。 2.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，照射光源发出的光为微波、可见光、红外或太赫兹波。 3.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，照射光源的出射光为平行光或发散光束。 4.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，所述样品台为可移动样品台。 5.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，所述抛物面反射镜组包括两正交放置的第一抛物面反射镜和第二抛物面反射镜，所述第一抛物面反射镜的焦点处放置所述照射光源，所述第二抛物面反射镜位于所述样品台下方。 6.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，所述平面反射镜组包括第一平面反射镜和第二平面反射镜，所述第一平面反射镜将经所述大口径抛物面反射镜反射的光，再通过所述第二平面反射镜反射给所述探测器。 7.根据权利要求1所述的基于透射方法的散射式近场显微光学系统，其特征在于，待测样品置于大口径抛物面反射镜的焦点位置处。
所属类别：	实用新型