详情

原文传递激光测距仪调节结构、摄像组件及导电粒子压痕检测设备

专利名称：	激光测距仪调节结构、摄像组件及导电粒子压痕检测设备
摘要：	本实用新型涉及一种激光测距仪调节结构、摄像组件及导电粒子压痕检测设备。该激光测距仪调节结构包括基座、安装板、激光测距仪及若干第一调节件，所述安装板活动安装于所述基座，所述激光测距仪设于所述安装板，所述安装板上开设有若干第一长条孔，若干第一紧固件穿设所述第一长条孔，用于将所述安装板固定于所述基座，所述第一调节件螺纹连接于所述基座并与所述安装板的端面相抵。上述激光测距仪调节结构能够用于调整激光测距仪的角度，使得测量范围中心位于相机镜头的中心线上，有效提高设备安装调试效率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市联得自动化装备股份有限公司
发明人：	郑嘉瑞;董佳驰;万春;李志聪
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-25T00:00:00+0800
申请号：	CN201822149499.9
公开号：	CN209542481U
代理机构：	广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人：	陈秀丽
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518101 广东省深圳市宝安区大浪街道大浪社区同富邨工业园A区3栋1-4层
主权项：	1.一种激光测距仪调节结构，其特征在于，包括基座、安装板、激光测距仪及若干第一调节件，所述安装板活动安装于所述基座，所述激光测距仪设于所述安装板，所述安装板上开设有若干第一长条孔，若干第一紧固件穿设所述第一长条孔，用于将所述安装板固定于所述基座，所述第一调节件螺纹连接于所述基座并与所述安装板的端面相抵。 2.根据权利要求1所述的调节结构，其特征在于，所述基座包括本体和设于所述本体的活动板，所述安装板设于所述活动板，所述激光测距仪调节结构还包括若干第二调节件，所述本体开设有若干第二长条孔，若干第二紧固件穿设所述第二长条孔，用于将所述活动板固定于所述本体，所述第二调节件螺纹连接于所述本体并与所述活动板的端部相抵。 3.根据权利要求2所述的调节结构，其特征在于，所述本体开设有滑槽，所述活动板滑设于所述滑槽。 4.根据权利要求2所述的调节结构，其特征在于，所述第二长条孔为直线形。 5.根据权利要求2所述的调节结构，其特征在于，所述活动板形成有弯折部，所述第一调节件螺纹连接于所述弯折部并抵持于所述安装板。 6.根据权利要求1所述的调节结构，其特征在于，所述第一长条孔为圆弧形。 7.根据权利要求1所述的调节结构，其特征在于，所述激光测距仪包括检测头和激光器，所述检测头包括投光部和受光部，所述投光部发射出的激光经工件反射后被所述受光部接收。 8.一种摄像组件，其特征在于，包括相机和权利要求1-7任一项所述的激光测距仪调节结构，所述相机设于所述基座上。 9.一种导电粒子压痕检测设备，其特征在于，包括权利要求8所述的摄像组件。 10.根据权利要求9所述的检测设备，其特征在于，还包括X轴运动模组和Z轴运动模组，所述Z轴运动模组滑动设于所述X轴运动模组，所述摄像组件设于所述Z轴运动模组。
所属类别：	实用新型