详情

原文传递导电粒子检测光学模组

专利名称：	导电粒子检测光学模组
摘要：	本发明公开了一种导电粒子检测光学模组，包括蓝色LED光源、光源偏光起偏镜、偏光检偏镜、线扫相机、高度调整滑台、DIC微分干涉插片、激光测距仪和显微物镜，线扫相机通过光学连通导件挂设在高度调节滑台下方，光源偏光起偏镜连接设置在光学连通导件一侧，偏光检偏镜位于光源偏光起偏镜下方，DIC微分干涉插片插设在光学连通导件上部，激光测距仪与高度调节滑台信号连通；测距仪及高度调节滑台配合自动快速对焦，操作简单速度快，多个光路元件及线扫相机配合进行采集便于后续分析，无需肉眼观察判断检测，对眼睛无伤害健康隐患小，检测效率高，劳动强度小，人工成本低，检测准确率高，不易出现误检错检，无需频繁返工再检，满足大批量检测需求。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	福建;35
申请人：	厦门柯尔自动化设备有限公司
发明人：	蔡章华
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-10T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-19T00:00:00+0800
申请号：	CN201910390124.8
公开号：	CN110031467A
代理机构：	北京国坤专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	黄耀钧
分类号：	G01N21/84(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	361000 福建省厦门火炬高新区(翔安)产业区翔虹路17号一楼
主权项：	1.一种导电粒子检测光学模组，其特征在于：包括蓝色LED光源(1)、光源偏光起偏镜(2)、偏光检偏镜(3)、线扫相机(4)、带伺服马达的高度调整滑台(5)、90°垂直放置的DIC微分干涉插片(6)、激光测距仪(7)和显微物镜(8)，所述线扫相机(4)通过光学连通导件(41)挂设在高度调节滑台(5)下方，所述光源偏光起偏镜(2)连接设置在光学连通导件(41)一侧，所述蓝色LED光源(1)设置在光源偏光起偏镜(2)外侧末端处，所述偏光检偏镜(3)通过连接片(31)设置在光线连接导件(41)一侧且位于光源偏光起偏镜(2)下方，所述DIC微分干涉插片(6)插设在光学连通导件(41)上部且正对着光源偏光起偏镜(2)，所述激光测距仪(7)设置在高度调节滑台(5)上部且两者信号连通，所述显微物镜(8)通过放置台面(81)设置在光学连通导件(41)顶部上方。
所属类别：	发明专利