专利名称: |
光学粒子检测器 |
摘要: |
提出一种用于检测粒子的设备(100),包括:第一光源(101),定位用于照亮穿过粒子检测器的检测区(130)的粒子(120);第一检测器(104),定位并适于检测检测区(130)中来自由第一光源(101)照亮的粒子的光信号;处理器(110),配置用于根据由第一检测器(104)检测的光信号确定穿过检测区(130)的粒子的类型;其特征在于,粒子检测器(100)还包括:用于检测粒子何时穿过检测区(130)的部件(105);控制器(103),耦合到部件(105)并配置为当粒子穿过检测区(130)时、利用第一脉冲电流操作第一光源(101)从而保护或延长第一光源(101)的寿命;并且其中第一脉冲电流选择为超过第一光源(101)的连续电流损坏阈值,从而增加第一光源(101)的光输出。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
荷兰;NL |
申请人: |
皇家飞利浦有限公司 |
发明人: |
P·范德斯卢斯 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2017-10-19T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-14T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201780065704.9 |
公开号: |
CN109891212A |
代理机构: |
北京市金杜律师事务所 |
代理人: |
郑立柱 |
分类号: |
G01N15/14(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
申请人地址: |
荷兰艾恩德霍芬市 |
主权项: |
1.一种用于检测粒子的设备(100),包括: 第一光源(101),被定位用于照亮穿过所述设备(100)的检测区(130)的粒子(120); 第一检测器(104),被定位并且适于检测所述检测区(130)中来自由所述第一光源(101)所照亮的粒子的光信号; 处理器(110),被配置用于根据由所述第一检测器(104)所检测的光信号来确定穿过所述检测区(130)的所述粒子的类型; 部件(105),用于检测粒子何时穿过所述检测区(130); 控制器(103),被耦合到所述部件(105)并被配置为当粒子穿过所述检测区(130)时、利用第一脉冲电流操作所述第一光源(101)从而延长所述第一光源(101)的寿命; 其特征在于: 所述控制器被配置为使得所述第一脉冲电流的幅值超过所述第一光源(101)的连续电流损坏阈值,从而增加所述第一光源(101)的光输出,其中所述连续电流损坏阈值是能够被连续地供应给所述第一光源(101)而不由于过热损坏所述第一光源(101)的最大电流。 2.根据权利要求1所述的设备(100),其中所述第一光源(101)是LED。 3.根据权利要求1所述的设备(100),其中所述第一光源(101)是UV LED,并且其中所述第一检测器(104)适于检测荧光。 4.根据权利要求1所述的设备(100),其中所述第一光源(101)是IR LED,并且其中所述第一检测器(104)适于检测IR光。 5.根据权利要求1所述的设备(100),还包括: 第二光源(106),被定位用于照亮穿过所述检测区(130)的粒子,所述第二光源(106)具有不同于所述第一光源(101)的波长范围,和 第二检测器(107),被定位并且适于检测所述检测区(130)中来自由所述第二光源(106)所照亮的粒子的光信号, 其中所述控制器(103)还被配置为当粒子穿过所述检测区(130)时、利用第二脉冲电流操作所述第二光源(106),从而延长所述第二光源(106)的寿命,其中所述第二脉冲电流的幅值被选择为超过所述第二光源(106)的连续电流损坏阈值,从而实质上地增加所述第一光源(101)的光输出,其中所述连续电流损坏阈值是能够被连续地供应给所述第二光源(106)而不由于过热损坏所述第二光源(106)的最大电流,并且 其中所述处理器(110)还被配置用于根据由所述第二检测器(104)所检测的光信号来确定穿过所述检测区(130)的粒子的类型。 6.根据权利要求5所述的设备(100),其中所述第二光源(106)是LED。 7.根据权利要求5或6所述的设备(100),其中所述第一光源(101)具有紫外线波长范围,并且其中所述第一检测器(104)适于检测荧光;其中所述第二光源(106)具有红外线波长范围,并且其中所述第二检测器(107)适于检测红外光。 8.根据前述权利要求中任意一项所述的设备(100), 其中用于检测粒子何时穿过所述检测区(130)的所述部件(105)包括: 另一光源(105a),被定位用于照亮所述检测区(130);和 另一检测器(105b),被定位用于接收所述检测区(130)中来自由所述另一光源(105a)所照亮的粒子的光。 9.根据权利要求8所述的设备(100),其中所述另一光源(105a)是发光二极管。 10.根据权利要求8或9所述的设备(100),其中所述另一光源(105a)具有所述可见光范围内或接近所述可见光范围的波长范围。 11.根据权利要求8所述的设备(100),其中所述处理器还被配置用于根据由所述另一检测器(105b)所检测的光信号确定穿过所述检测区(130)的粒子的类型。 12.根据前述权利要求中任意一项所述的设备(100),其中所述控制器(130)还被配置用于当所述粒子穿过所述检测区(130)时、激活所述第一检测器(104)。 13.根据权利要求5-7中任意一项所述的设备(100),其中所述控制器(103)还被配置用于当所述粒子穿过所述检测区(130)时、激活所述第二检测器(107)。 14.一种装置(300),包括: 流体通道(102),包括分叉,从而将所述流体通道(102)分成第一分支(109)和第二分支(110); 根据前述权利要求中任意一项所述的设备(100),位于所述第一分支(109)中; 其中所述第一分支(109)与所述第二分支(110)重新连接,并且其中所述设备(100)在所述分叉和所述第一分支(109)与所述第二分支(110)的重新连接处之间位于所述第一分支(109)中; 风扇(108),用于将空气吸入所述流体通道(102)中,并且被定位使得由所述风扇(108)创建的压力将空气吸入所述第一分支(109)和所述第二分支(110)中;并且其中所述风扇(108)适于:将具有比预定质量更低质量的粒子吸入所述第二分支(110),并且将具有比所述预定质量更高质量的粒子吸入所述第一分支(109)。 15.一种空气净化器,包括根据前述权利要求中任意一项所述的设备或装置。 |
所属类别: |
发明专利 |