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原文传递一种微米粒子光学检测装置

专利名称：	一种微米粒子光学检测装置
摘要：	本发明提供了一种微米粒子检测装置，该微米粒子检测装置是基于米氏散射理论来检测粒子尺度，并且通过在激光器主线光路上设置的反射部件来将主激光束反射出扩散光束传播光路外，使得最后的光接收器中收集到的光信号中只有米氏散色光。本装置通过减少主激光对检测信号的干扰，能够减少粒子检测过程中的噪声和提高信噪比，对获得的米氏散射光的散射图案进行记录和特征辨识，对该粒子进行标记，从而提高粒子检测的精准度。能够使研究人员快速准确的检测粒子。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	吉林;22
申请人：	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人：	武俊峰;吴一辉;李彦呈
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-07T00:00:00+0800
申请号：	CN201811633456.6
公开号：	CN109724901A
代理机构：	深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	吴乃壮
分类号：	G01N15/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
主权项：	1.一种微米粒子光学检测装置，其特征在于，该微米粒子光学检测装置包括：激光器，所述激光器用于出射沿第一方向传播的激光束以照射被检测粒子；设于所述激光器出射口、用于放置被检测粒子的光扩散组件，所述激光束照射所述被检测粒子，发生米氏散射形成扩散光束；光学整形组件，用于对所述扩散光束进行整形；光接收器，用于接收整形后的扩散光束；以及设于所述扩散光束传播光路中的反射部件，用于反射扩散光束中沿第一方向传播的光束以将该光束引导至所述扩散光束传播光路外。 2.如权利要求1所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述光扩散组件为粒子通道。 3.如权利要求2所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述光学整形组件包括：设于所述粒子通道和所述反射部件之间的聚集镜，用于对所述扩散光束进行汇聚。 4.如权利要求3所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述光学整形组件还包括：设于所述反射部件和所述光接收器之间的视场调节透镜，用于对所述扩散光束的出射光角度进行调节。 5.如权利要求1或2或3所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述反射部件包括反射吸收点和平板玻璃，所述反射吸收点安装在所述平板玻璃上，所述反射吸收点的表面为反射面。 6.如权利要求5所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述反射吸收点的表面为45度斜面。 7.如权利要求5所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述激光束的焦点位于所述反射吸收点的表面上。 8.如权利要求3所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，所述光接收器为相机，用于获取整形后的扩散光束的散射图。 9.如权利要求8所述的微米粒子光学检测装置，其特征在于，该装置还包括分析模块，用于根据所述散射图判断所述被检测粒子的种类。
所属类别：	发明专利