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原文传递一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统

专利名称：	一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统
摘要：	本实用新型公开了一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，包括：激光器；分光镜，定位成将来自所述激光器的激光向被检物反射，并仅允许来自所述被检物的反斯托克斯光透射通过所述分光镜；以及光谱仪，所述光谱仪接收来自所述被检物且透射通过所述分光镜的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物的拉曼光谱，本实用新型通过被检物的反斯托克斯光来识别被检物，由于采集到的被检物的反斯托克斯光的波长小于激光的波长，而荧光的波长大于激光的波长，被检物的反斯托克斯光与荧光在不同波段，二者没有重叠，故荧光不会对被检物的反斯托克斯拉曼信号产生影响，从而就消除了荧光的干扰。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	同方威视技术股份有限公司
发明人：	张建红;王红球
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-12T00:00:00+0800
申请号：	CN201822275820.8
公开号：	CN209624393U
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	张启程
分类号：	G01N21/65(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
主权项：	1.一种用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，包括：激光器(1)；分光镜(3)，定位成将来自所述激光器(1)的激光向被检物(4)反射，并仅允许来自所述被检物(4)的反斯托克斯光透射通过所述分光镜(3)；以及光谱仪(5)，所述光谱仪(5)接收来自所述被检物(4)且透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并对所述反斯托克斯光进行光谱分析以得到所述被检物(4)的拉曼光谱。 2.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括反射镜(2)，所述反射镜(2)定位成将来自所述激光器(1)的激光反射至所述分光镜(3)。 3.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述分光镜(3)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述被检物(4)设置在所述分光镜(3)的反射光路上，所述光谱仪(5)设置在所述分光镜(3)的透射光路上。 4.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述反射镜(2)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述分光镜(3)设置在所述反射镜(2)的反射光路上，所述被检物(4)设置在所述分光镜(3)的反射光路上，所述光谱仪(5)设置在所述分光镜(3)的透射光路上。 5.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括探头(6)，所述激光器(1)将激光传送给所述探头(6)，以便所述探头(6)使激光照射到所述分光镜(3)上，并通过所述分光镜(3)将激光反射至所述被检物(4)上以激发出所述被检物(4)的反斯托克斯光，所述探头(6)收集来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪(5)。 6.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括探头(6)，所述激光器(1)将激光传送给所述探头(6)，以便所述探头(6)使激光照射到所述反射镜(2)上，并依次通过所述反射镜(2)和所述分光镜(3)将激光反射至所述被检物(4)上以激发出所述被检物(4)的反斯托克斯光，所述探头(6)收集来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光，并将所述反斯托克斯光传送给所述光谱仪(5)。 7.根据权利要求5或6所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述探头(6)还包括导入光纤(7)和收集光纤(8)，或者拉曼检测系统还包括与所述探头(6)分开设置的导入光纤(7)和收集光纤(8)，其中，所述激光器(1)通过所述导入光纤(7)将激光传送到所述探头(6)内部，所述反斯托克斯光通过所述收集光纤(8)传送给所述光谱仪(5)。 8.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括第一透镜(9)和第二透镜(10)，所述第一透镜(9)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述第二透镜(10)设置在所述分光镜(3)的反射光路上，激光经过所述第一透镜(9)成为平行光并照射至所述分光镜(3)上，经所述分光镜(3)反射的平行光经过所述第二透镜(10)聚焦到所述被检物(4)上。 9.根据权利要求2所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括第一透镜(9)和第二透镜(10)，所述第一透镜(9)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述第二透镜(10)设置在所述分光镜(3)的反射光路上，激光经过所述第一透镜(9)成为平行光并照射至所述反射镜(2)上，所述反射镜(2)将所述平行光反射至所述分光镜(3)上，所述分光镜(3)反射所述平行光并且经所述分光镜(3)反射的平行光经过所述第二透镜(10)聚焦到所述被检物(4)上。 10.根据权利要求8或9所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括第三透镜(11)，所述第三透镜(11)设置在所述分光镜(3)的透射光路上，来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光经过所述第三透镜(11)聚焦后被传送给所述光谱仪(5)。 11.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括窄带滤波片(12)，所述窄带滤波片(12)设置在所述激光器(1)的直射光路上，所述激光器(1)的激光经过所述窄带滤波片(12)滤光后照射到所述分光镜(3)上。 12.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，还包括短通滤波片(13)，所述短通滤波片(13)设置在所述分光镜(3)的透射光路上，来自所述被检物(4)并透射通过所述分光镜(3)的反斯托克斯光经过所述短通滤波片(13)滤光后被传送给所述光谱仪(5)。 13.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述激光器(1)为785nm半导体激光器。 14.根据权利要求1所述的用于消除荧光干扰的拉曼检测系统，其特征在于，所述分光镜(3)为45°二向色镜。
所属类别：	实用新型