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原文传递一种光谱检测装置和检测方法

专利名称：	一种光谱检测装置和检测方法
摘要：	本发明公开了一种光谱检测装置和检测方法，以提供一种可批量生产的、微小型化的，能与微流体通道集成的、且可与微型传感器集成的小型化的光谱检测装置。所述光谱检测装置，包括：至少一个出光结构，所述出光结构被配置为出射设定波长的光；第一透明衬底基板，所述第一透明衬底基板具有至少一个微流通道，所述微流通道位于所述出光结构的出光侧；至少一个光检测结构，所述光检测结构位于所述微流通道的背离所述出光结构的一侧，被配置为对所述出光结构出射且透过所述微流通道的待检测物的光线进行检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	京东方科技集团股份有限公司
发明人：	孟宪芹;孟宪东;王维;陈小川;田依杉;刘佩琳
专利状态：	有效
申请日期：	2019-08-22T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201910778172.4
公开号：	CN110487734A
代理机构：	北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人：	李欣
分类号：	G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
主权项：	1.一种光谱检测装置，其特征在于，包括：至少一个出光结构，所述出光结构被配置为出射设定波长的光；第一透明衬底基板，所述第一透明衬底基板具有至少一个微流通道，所述微流通道位于所述出光结构的出光侧；至少一个光检测结构，所述光检测结构位于所述微流通道的背离所述出光结构的一侧，被配置为对所述出光结构出射且透过所述微流通道的待检测物的光线进行检测。 2.如权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，每一所述出光结构包括：第二透明衬底基板，位于所述第二透明衬底基板一面的光源，以及位于所述第二透明衬底基板另一面的一滤光单元，所述滤光单元被配置为将所述光源出射的光过滤为具有设定波长的光。 3.如权利要求2所述的光谱检测装置，其特征在于，所述滤光单元包括多层依次交替叠层设置的第一膜层和第二膜层，所述第一膜层与所述第二膜层的折射率不同。 4.如权利要求3所述的光谱检测装置，其特征在于，不同所述滤光单元的所述第一膜层和所述第二膜层的厚度比值不同，所述第二膜层的折射率大于所述第一膜层的折射率，所述滤光单元滤出的光的波长与n成反比，其中，n＝d1/d2，d1代表第一膜层的厚度，d2代表第二膜层的厚度；或者，各所述滤光单元中的第一膜层和第二膜层的厚度相同，不同所述滤光单元的膜层数量不同。 5.如权利要求3所述的光谱检测装置，其特征在于，多层依次交替叠层的所述第一膜层和所述第二膜层组成的膜层作为交叠复合层，所述滤光单元还包括位于所述交叠复合层出光侧的微纳单元；所述微纳单元被配置对同一所述滤光单元的所述交叠复合层滤出的光线进行过滤。 6.如权利要求2所述的光谱检测装置，其特征在于，所述滤光单元包括由第一原子和第二原子组成的复合膜层，不同所述滤光单元的所述第一原子和所述第二原子的数量比值不同。 7.如权利要求2所述的光谱检测装置，其特征在于，所述滤光单元包括叠层设置的两层第三膜层、和位于两层所述第三膜层之间的第四膜层，所述第四膜层的折射率大于所述第三膜层的折射率；不同所述滤光单元的所述第四膜层的厚度不同，不同所述滤光单元的所述第三膜层的厚度相同。 8.如权利要求3-7任一项所述的光谱检测装置，其特征在于，所述出光结构还包括位于所述光源与所述第二透明衬底基板之间的准直结构，所述准直结构被配置为将所述光源发出的光垂直入射到对应的所述滤光单元。 9.如权利要求8所述的光谱检测装置，其特征在于，每一所述光检测结构包括：第三透明衬底基板，以及位于所述第三透明基板面向所述微流通道一面的光检测部件。 10.如权利要求8所述的光谱检测装置，其特征在于，所述微流通道位于所述第一透明衬底基板的面向所述出光结构的一面；所述光检测结构包括位于所述第一透明衬底基板的背离所述出光结构一面的光检测部件。 11.如权利要求1所述的光谱检测装置，其特征在于，所述光谱检测装置还包括：处理部件，所述处理部件被配置为根据将所述光检测结构输出的光谱信息与预存的光谱信息进行对比，分析所述待检测物中的成分信息。 12.一种如权利要求1-11任一项所述的光谱检测装置的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：向所述微流通道中通入含有待检测物的液体；通过所述出光结构照射流过所述微流通道的所述待检测物；所述光检测结构对所述出光结构出射且透过所述微流通道的待检测物的光线进行检测。 13.如权利要求12所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：所述处理部件根据将所述光检测结构输出的光谱信息与预存的光谱信息进行对比，分析所述待检测物中的成分信息。
所属类别：	发明专利