专利名称: |
基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法 |
摘要: |
本发明提出一种基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,包括以下步骤:步骤S1:获取西瓜的可见/近红外光谱;步骤S2:对步骤S1获取的光谱提取峰值peak1和峰值peak2;步骤S3:计算RPP值和/或NDIP值:RPP=peak1/peak2;NDIP=(peak1+peak2)/(peak1‑peak2);步骤S4:对多个西瓜样本执行步骤S1‑步骤S3,对计算获得的RPP值和/或NDIP值的数据集进行训练,通过遗传算法获得RPP和/或NPID的边界校正因子CRPP和/或CNDIP。该方法能够有效分辨成熟的西瓜、减少未成熟西瓜的采摘,实现经济利益的最大化。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
福建;35 |
申请人: |
福建农林大学 |
发明人: |
介邓飞;吴爽;魏萱;叶大鹏 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-08-16T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-11-19T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910756088.2 |
公开号: |
CN110470619A |
代理机构: |
福州元创专利商标代理有限公司 |
代理人: |
丘鸿超;蔡学俊 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
350002 福建省福州市仓山区上下店路15号 |
主权项: |
1.一种基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤S1:获取西瓜的可见/近红外光谱; 步骤S2:对步骤S1获取的光谱提取峰值peak1和峰值peak2; 步骤S3:计算RPP值和/或NDIP值: RPP=peak1/peak2; NDIP=(peak1+peak2)/(peak1-peak2); 步骤S4:对多个西瓜样本执行步骤S1-步骤S3,对计算获得的RPP值和/或NDIP值的数据集进行训练,通过遗传算法获得RPP和/或NPID的边界校正因子CRPP和/或CNDIP; 步骤S5:通过以下模型:Correct-RPP=R±CRPP和/或Correct-NDIP=N±CNDIP,确定用于标记西瓜的成熟度的最佳边界值。 2.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:在步骤S2中,所述峰值peak1和峰值peak2提取所依据的光谱分别为漫透射光谱在720-740nm和802-805nm出现的吸收峰。 3.根据权利要求2所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:所述峰值peak1和峰值peak2为光谱曲线的局部最大值。 4.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于:在步骤S1中,在西瓜周部紧密接触布设聚氨酯嵌入式光纤,并在西瓜赤道周围设置12个卤钨灯,并通过光谱仪获取可见/近红外光谱。 5.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,步骤S4具体包括以下步骤: 步骤S41:选定多个常数作为RPP和/或NDIP的初始边界校正因子; 步骤S42:结合校准集的RPP值和/或NDIP值及对应的标签,在训练的过程中保留对边界处理较好的初始边界校正因子,经过多次训练筛选出最佳的初始边界校正因子作为边界校正因子CRPP和/或CNDIP。 6.根据权利要求1所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,在步骤S5中,对Correct-RPP值和/或Correct-NDIP值进行一维搜索,获得三个不同成熟度相邻组之间的最佳边界值,将西瓜分类为四种成熟度。 7.根据权利要求6所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,对于Correct-RPP值,三个最佳边界值分别为:1.21±0.02,0.96±0.02和0.68±0.02。 8.据权利要求6所述的基于光谱特性的西瓜成熟度快速无损检测方法,其特征在于,对于Correct-NDIP值,三个最佳边界值分别为:0.18±0.01,0±0.01和-0.1±0.01。 |
所属类别: |
发明专利 |