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原文传递 一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法
专利名称: 一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法
摘要: 本发明涉及一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g工业硼酸置于XRFS分析用压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;按试样粉末∶结合剂的质量比为100∶(0.3~3),将所述试样粉末和所述结合剂混合均匀,得到混合粉;将衬托膜平铺在所述衬底层上,然后将0.5~3g所述混合粉或0.5~3g所述试样粉末均匀地铺洒在衬托膜上,用样勺抹平;所述衬托膜的直径d1=d0‑(3~5)mm,厚度为0.1~0.3mm;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;将聚乙烯膜覆盖于XRFS分析用压片机压头的工作面上,加压,保压,脱模,得到聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、成片率高和测量误差小的特点。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 武汉科技大学
发明人: 徐建平;李新家;吴超超;周双清;李世晶;余雷
专利状态: 有效
申请日期: 2019-08-09T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-19T00:00:00+0800
申请号: CN201910735179.8
公开号: CN110470686A
代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人: 张火春
分类号: G01N23/2202(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号
主权项: 1.一种聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法,其特征在于所述压片方法的步骤是: 步骤一、将2.5~3.5g的工业硼酸置于XRFS分析用压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层; 步骤二、按试样粉末∶结合剂的质量比为100∶(0.3~3),将所述试样粉末和所述结合剂混合均匀,得到混合粉; 步骤三、将衬托膜平铺在所述衬底层上,然后将0.5~3g的所述混合粉或0.5~3g的所述试样粉末均匀地铺洒在衬托膜上,用样勺将所述混合粉或所述试样粉末抹平; 所述衬托膜的直径d1=d0-(3~5)mm,厚度为0.1~0.3mm;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm; 步骤四、将聚乙烯膜覆盖于XRFS分析用压片压头的工作面上,加压,保压,脱模,得到聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片。 2.根据权利要求1所述聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法,其特征在于所述衬托膜的材质为吸水纸、聚氨酯泡塑和聚乙烯泡塑中的一种。 3.根据权利要求1所述聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法,其特征在于所述结合剂为硼酸、聚乙烯醇、淀粉和纤维素中的一种;结合剂的纯度为分析纯以上。 4.根据权利要求1所述聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法,其特征在于所述聚乙烯膜的厚度为0.01~0.1mm。 5.根据权利要求1所述聚乙烯膜隔离的XRFS分析用样片的压片方法,其特征在于所述试样粉末为粉尘、沉泥、铁合金、矿石、炉渣和耐火材料中的一种,试样粉末的粒度<0.125mm。
所属类别: 发明专利
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