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一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法
| 专利名称： | 一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是：将2.5～3.5g的硼酸置入压片机装料腔的底部，铺平，即得衬底层；再将厚度为0.5～1mm的薄膜材料制成直径d＝d0‑(3～5mm)的圆片，即得衬托膜；其中：d0表示压片机装料腔的直径，mm；然后将所述衬托膜平铺在所述衬底层上，将0.5～3g的试样粉末均匀地铺撒在所述衬托膜上；最后用样勺将试样粉末抹平，安装压片机压头，加压，保压，脱模，得到硼酸衬底的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、不易产生剥离层、试样粉末用量小和成片率高的特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉科技大学 |
| 发明人： | 徐建平;李新家;吴超超;周双清 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-08T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-19T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910728811.6 |
| 公开号： | CN110470685A |
| 代理机构： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) |
| 代理人： | 张火春 |
| 分类号： | G01N23/2202(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号 |
| 主权项： | 1.一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于所述制备方法的步骤是： 步骤一、将2.5～3.5g的硼酸置入XRFS分析用压片机装料腔的底部，铺平，即得衬底层； 步骤二、将厚度为0.5～1mm的薄膜材料制成直径d＝d0-(3～5mm)的圆片，即得衬托膜；其中：d0表示XRFS分析用压片机装料腔的直径，mm； 步骤三、将所述衬托膜平铺在所述衬底层上，然后将0.5～3g的试样粉末均匀地铺撒在所述衬托膜上； 步骤四、用样勺将试样粉末抹平，安装XRFS分析用压片机压头，加压，保压，脱模，得到硼酸衬底的XRFS分析用样片。 2.根据权利要求1所述硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于所述硼酸为工业纯以上。 3.根据权利要求1所述硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于所述薄膜材料为聚乙烯、聚苯乙烯、聚氨酯发泡材料和吸水纸中的一种。 4.根据权利要求1所述硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法，其特征在于所述试样粉末为金属、铁合金、矿石、炉渣、耐火材料和炉料中的一种。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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