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原文传递 重轨钢微观偏析快速定位评价方法
专利名称: 重轨钢微观偏析快速定位评价方法
摘要: 本发明公开的是钢铁冶金领域的一种重轨钢微观偏析快速定位评价的方法,包括的步骤为:首先利用金属原位检测分析仪对微观偏析极值检验及极值目标区域进行初步定位,然后对金属原位扫描后完成目标区域定位的试样进行线切割加工,切取目标区域金相试样,对试样检测面按金相检验标准制样,最后用热场发射扫描电镜进行目标区域微观偏析面扫描检验,完成微观偏析极值点的准确定位。采用该方法得到的微观偏析极值点定位准确,可为重轨钢铸坯及钢轨均质性提升工艺优化提供重要判据参考。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 四川;51
申请人: 攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司
发明人: 李红光;陈天明;张婷婷;刘兆华
专利状态: 有效
申请日期: 2019-07-22T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-19T00:00:00+0800
申请号: CN201910660589.0
公开号: CN110470687A
代理机构: 成都虹桥专利事务所(普通合伙)
代理人: 罗明理
分类号: G01N23/2251(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 617000 四川省攀枝花市东区桃源街90号
主权项: 1.重轨钢微观偏析快速定位评价方法,其特征是,包括以下步骤: 第一步:微观偏析极值检验及极值目标区域初步定位 将目标试样加工成平台试样,检测面进行刨磨加工,将检测面进行金属原位扫描检测,将检测结果二维抛图进行分析,定位偏析度极大值点与极小值点所在区域,根据区域坐标回溯试样检测面具体位置,最终实现微观偏析极值点初步定位聚焦; 第二步:目标区域取样及制样 对金属原位扫描后完成目标区域定位的试样进行线切割加工,切取目标区域金相试样,对试样检测面按金相检验标准制样; 第三步:微观偏析目标区域检测评价及准确定位 试样加工完后,采用热场发射扫描电镜进行目标区域微观偏析面扫描检验,根据面扫结果进行溶质含量极值微区进行点成分检验以获取微区最低溶质含量及最高溶质含量,同时对微观偏析极值点准确定位。 2.如权利要求1所述的重轨钢微观偏析快速定位评价方法,其特征是:平台试样的长边尺寸为30~150mm,宽边尺寸为30~80mm,试样厚度为10~20mm。 3.如权利要求1所述的重轨钢微观偏析快速定位评价方法,其特征是:用于检测的目标试样位于钢轨上排出铸坯中心区域及轨腰疏松区域的其它致密度高的部位。
所属类别: 发明专利
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