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原文传递一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置

专利名称：	一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置
摘要：	本发明公开了一种致密砂岩全视域的孔隙、物性检测方法和装置，涉及油气储层评价领域，其中，一种致密砂岩全视域的孔隙检测方法，包括：利用荧光染料对致密砂岩的孔隙进行填充，得到铸体样品；在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；利用全部所述二维荧光数据进行表面建模，得到表面模型的图像，所述图像用于展示所述致密砂岩孔隙分布位置和形态；分别计算若干所述二维荧光数据对应的荧光区域面积，根据所述荧光区域面积得到每个所述孔隙的等效孔隙直径。以解决目前无法精确识别致密砂岩微观孔隙、对于孔隙发育不均匀的岩石样品会产生较大的分析误差以及直接影响面孔率和等效孔隙直径的计算精度的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	黑龙江;23
申请人：	大庆油田有限责任公司
发明人：	王继平;邵红梅;洪淑新;赵俊丽;潘会芳;李舰;王永超;裴昌蓉;谭文丽
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-22T00:00:00+0800
申请号：	CN201910632906.8
公开号：	CN110487696A
代理机构：	大庆知文知识产权代理有限公司
代理人：	杨英健
分类号：	G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	163453 黑龙江省大庆市让胡路区中央大街南段233号
主权项：	1.一种致密砂岩全视域的孔隙检测方法，其特征在于，包括：利用荧光染料对致密砂岩的孔隙进行填充，得到铸体样品；在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；利用全部所述二维荧光数据进行表面建模，得到表面模型的图像，所述图像用于展示所述致密砂岩孔隙分布位置和形态；分别计算若干所述二维荧光数据对应的荧光区域面积，根据所述荧光区域面积得到每个所述孔隙的等效孔隙直径。 2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于：在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到二维数据；对所述二维数据进行分离，得到所述二维数据；其中，所述二维数据为全视域铸体样品的数据，包括：所述二维荧光数据和岩石骨架二维数据。 3.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，在对所述铸体样品进行扫描前，确定所述荧光染料的波长范围；以及/或所述确定所述荧光染料的波长范围的方法为：选择第一设定波长的激光作为激发光源对所述荧光染料进行扫描，多次接收一定范围的特征荧光光谱数据；分别对多次所述的特征荧光光谱数据绘制荧光光谱曲线，将若干所述光光谱曲线叠加到一张谱图中，确定所述荧光染料的波长范围；根据所述波长范围得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；其中，所述多次至少为1次。 4.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，还包括：计算面孔率，所述面孔率的计算方法为：计算所述荧光区域面积之和；计算所述铸体样品的面积；所述面孔率为所述荧光区域面积之和除以所述铸体样品的面积；其中，将所述铸体样品等效为圆面。 5.一种致密砂岩的物性检测方法，其特征在于，包括：如权利要求1-4任一项所述的检测方法；利用所述等效孔隙直径判断所述致密砂岩的储层物性，其方法为：设定所述等效孔隙直径的若干区间范围；分别计算落入所述若干区间范围内等效孔隙直径的数量；分别计算所述数量与总孔隙数量的百分比；取所述百分比中的最大值对应的所述等效孔隙直径为所述致密砂岩的储层物性的判断依据。 6.一种致密砂岩全视域的孔隙检测装置，其特征在于，包括：制备单元，利用荧光染料对致密砂岩的孔隙进行填充，得到铸体样品；二维荧光数据获取单元，在全视域下对所述铸体样品进行扫描，得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；表面建模单元，利用全部所述二维荧光数据进行表面建模，得到表面模型的图像，所述图像用于展示所述致密砂岩孔隙分布位置和形态；计算单元，分别计算若干所述二维荧光数据对应的荧光区域面积，根据所述荧光区域面积得到每个所述孔隙的等效孔隙直径。 7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，还包括：分离单元；在全视域下，对所述铸体样品进行扫描，得到二维数据；所述分离单元，获取所述二维数据，对所述二维数据进行分离，得到所述二维数据；其中，所述二维数据为全视域铸体样品的数据，包括：所述二维荧光数据和岩石骨架二维数据。 8.根据权利要求6或7所述的检测装置，其特征在于，还包括：确定单元和/或子确定单元，所述确定单元包括所述子确定单元；所述确定单元，在对所述铸体样品进行扫描前，确定所述荧光染料的波长范围；所述子确定单元，用于确定所述荧光染料的波长范围，完成以下操作或者程序：选择第一设定波长的激光作为激发光源对所述荧光染料进行扫描，多次接收一定范围的特征荧光光谱数据；分别对多次所述的特征荧光光谱数据绘制荧光光谱曲线，将若干所述光光谱曲线叠加到一张谱图中，确定所述荧光染料的波长范围；根据所述波长范围得到若干所述孔隙对应的二维荧光数据；其中，所述多次至少为1次。 9.根据权利要求6或7所述的检测装置，其特征在于，还包括：面孔率计算单元；所述面孔率计算单元，完成以下操作或者程序：获取所述荧光区域面积；计算所述荧光区域面积之和；计算所述铸体样品的面积；所述面孔率为所述荧光区域面积之和除以所述铸体样品的面积；其中，将所述铸体样品等效为圆面。 10.一种致密砂岩的物性检测装置，其特征在于，包括：如权利要求6-9任一项所述的检测装；以及判断单元；所述判断单元，利用所述等效孔隙直径判断所述致密砂岩的储层物性；所述判断单元，完成以下操作或者程序：设定所述等效孔隙直径的若干区间范围；分别计算落入所述若干区间范围内等效孔隙直径的数量；分别计算所述数量与总孔隙数量的百分比；取所述百分比中的最大值对应的所述等效孔隙直径为所述致密砂岩的储层物性的判断依据。
所属类别：	发明专利