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原文传递氧分析仪的机械校准装置

专利名称：	氧分析仪的机械校准装置
摘要：	本发明提供一种氧分析仪的机械校准装置，该机械校准装置包括用于对氧分析仪进行校准的校准电位器和用于对校准电位器进行旋转操作的操作机构，校准电位器设置在氧分析仪的壳体上并且从壳体向外伸出，操作机构设置在氧分析仪的保护外壳上，氧分析仪设置在保护外壳内，操作结构与校准电位器操作地连接，以便对校准电位器进行旋转操作。通过在氧分析仪的保护外壳上设计有单独的机械校准装置，可操作地连接设置在壳体的内部的校准电位器，用户在线校准可以通过设置在保护外壳的外部的机械校准装置完成，校准过程便捷高效。在氧分析仪的显示窗部分只需采用符合相关防爆标准的普通防爆玻璃，由此在满足防爆要求的情况下大大降低成本。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国原子能科学研究院
发明人：	贾铁军;尹卫;向蓝翔;丛中斗;高会玲;黄继东
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-15T00:00:00+0800
申请号：	CN201910869919.7
公开号：	CN110456007A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	张成新
分类号：	G01N33/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	102413北京市房山区新镇三强路1号院
主权项：	1.一种氧分析仪的机械校准装置，包括：用于对所述氧分析仪进行校准的校准电位器，所述校准电位器设置在所述氧分析仪的壳体上并且从所述壳体向外伸出；以及用于对所述校准电位器进行旋转操作的操作机构，所述操作机构设置在所述氧分析仪的保护外壳上，所述氧分析仪设置在所述保护外壳内，所述操作结构与所述校准电位器操作地连接，以便对所述校准电位器进行旋转操作。 2.根据权利要求1所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，所述校准电位器通过其位于所述壳体的一侧的凸台和位于所述壳体的另一侧的螺母固定地设置在所述壳体上。 3.根据权利要求1所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，所述操作机构包括操作部件和将所述操作部件设置在形成于所述保护外壳中的通孔内的旋转固定组件。 4.根据权利要求3所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，所述旋转固定组件包括固定地设置在所述保护外壳上的第一衬套以及可旋转地设置在所述第一衬套内的第二衬套，所述操作部件固定地设置在所述第二衬套内。 5.根据权利要求4所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，所述第一衬套具有圆筒形结构并且包括第一凸肩，所述第一衬套通过所述第一凸肩卡接在所述保护壳体的内壁上。 6.根据权利要求4所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，所述第二衬套具有圆筒形结构并且包括第二凸肩，所述第二衬套通过所述第二凸肩卡接在所述第一衬套的外端侧。 7.根据权利要求4所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，所述操作部件包括第三凸肩，所述操作部件通过所述第三凸肩卡接在所述第二衬套的外端侧。 8.根据权利要求4所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，在所述操作部件的与所述第二衬套相接触的圆周上设置有第一圆周槽，在所述第一圆周槽内设置有密封圈。 9.根据权利要求4所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，在所述操作部件的邻近所述第二衬套的内端侧的位置处形成有第二圆周槽，在所述第二圆周槽内设置有开口挡圈，所述开口挡圈将所述操作部件与所述第二衬套卡接在一起。 10.根据权利要求9所述的氧分析仪的机械校准装置，其特征在于，在所述校准电位器的与所述操作部件操作地连接的端部上形成有连接槽，并且在所述操作部件的相对应的端部上形成有与所述连接槽相结合的凸起部。
所属类别：	发明专利