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一种利用金属内耗的无损检测方法
| 专利名称： | 一种利用金属内耗的无损检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种利用金属内耗的无损检测方法，包括以下步骤，取得金属试样并将其安装到振幅内耗仪上；振幅内耗仪进行大应变内耗测试，调节振幅得到对应的振幅‑内耗曲线，该振幅‑内耗曲线具有一个拐点；改变金属试样的温度，重复上述步骤，得到每个温度下的振幅‑内耗曲线；结合不同的振幅‑内耗曲线对比分析确定金属试样的DBTT。经过与拉伸试验的对比，证明了本申请方案在测试金属试样是的有效性。采用本检测方法通过振幅‑内耗方式试验，可以不破坏金属试样，从而延长金属试样的使用寿命，甚至达到重复使用金属试样的目的。此发明用于金属检测领域。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 广州大学 |
| 发明人： | 张涛 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-07-31T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-19T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910700140.2 |
| 公开号： | CN110470733A |
| 代理机构： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 |
| 代理人： | 任毅 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 510006 广东省广州市大学城外环西路230号 |
| 主权项： | 1.一种利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于包括以下步骤： S1.取得金属试样，然后将金属试样安装到振幅内耗仪上； S2.振幅内耗仪运行，进行大应变内耗测试，以振幅为X轴，以内耗为Y轴，调节振幅得到对应的振幅-内耗曲线，该振幅-内耗曲线具有一个断裂点或拐点； S3.改变金属试样的温度，重复步骤S3，得到其他温度下的振幅-内耗曲线； S4.结合不同的振幅-内耗曲线对比分析确定金属试样的DBTT，随着温度的逐渐上升，部分的振幅-内耗曲线会断裂，而后续部分的振幅-内耗曲线会出现拐点，振幅-内耗曲线从断裂到出现拐点所对应的这个温度便是金属试样的DBTT。 2.根据权利要求1所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：所述步骤S1中金属试样的长宽高分为记为a、b、c，单位为毫米，a∈[200,300]，b∈[1,3]，c∈[0.2,0.6]。 3.根据权利要求2所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：所述金属试样在试验前进行抛光。 4.根据权利要求3所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：采用砂纸抛光的方式，所述砂纸为500～1500目。 5.根据权利要求2所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：所述步骤S1中金属试样处于真空环境中。 6.根据权利要求5所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：所述步骤S2中振幅内耗仪采用强迫振动模式，频率为2Hz，设定振幅区间然后从中选取若干个振幅点，记录每个振幅点所对应的内耗点，最后拟合形成振幅-内耗曲线。 7.根据权利要求6所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：所述振幅区间为50～6000μm，从该振幅区间中选取50个呈指数增加的振幅点。 8.根据权利要求6所述的利用金属内耗的无损检测方法，其特征在于：所述步骤S3中改变金属试样温度的方法包括通入液氮降温或通过电阻丝加热。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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