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原文传递一种岔区轨道状态检测方法

专利名称：	一种岔区轨道状态检测方法
摘要：	公开了一种岔区轨道状态检测方法，通过第一检测装置获取岔区轨道检测系统的行进距离，通过第二检测装置获取第一行进轨与基准线之间的相对状态参数，并根据行进距离和/或相对状态参数控制第三检测装置移动至中间轨的上方。同时，通过第二检测装置标定检测系统的行进初始点，可修正第一检测装置对行进距离的测量偏差。由此本发明实施例的方法代替了现有测量方法，自动化程度较高，提高了轨道测量精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京华横科技有限公司
发明人：	孔德顺;姜恵峰;李元龙;梁凤庆;周用贵;王敏;刘越;杨琦;傅青喜;李世林;安爱民;段小军;李学宝;胡智博
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910865896.2
公开号：	CN110497931A
代理机构：	北京睿派知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘锋
分类号：	B61K9/08(2006.01);B;B61;B61K;B61K9
申请人地址：	100081 北京市海淀区大柳树路2号
主权项：	1.一种岔区轨道状态检测方法，用于控制岔区轨道检测系统，所述岔区轨道检测系统受控在第一行进轨和第二行进轨上移动，中间轨与所述第一行进轨和/或所述第二行进轨连接，所述第一行进轨与所述第二行进轨不相交，其特征在于，所述方法包括：控制第一检测装置获取岔区轨道检测系统沿第一行进轨或第二行进轨的行进距离；控制第二检测装置获取第一行进轨与基准线之间的相对状态参数；根据所述行进距离和/或所述相对状态参数控制第三检测装置移动，使所述第三检测装置位于所述中间轨的上方；控制第三检测装置检测中间轨；其中，所述第一检测装置和第二检测装置固定在所述岔区轨道检测系统上，所述第三检测装置可移动地设置在所述岔区轨道检测系统上。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一检测装置包括第一检测单元，所述第一检测单元为增量式编码器，安装在所述岔区轨道检测系统的滚轮处；控制第一检测单元检测岔区轨道检测系统沿第一行进轨或第二行进轨的行进距离包括：获取所述滚轮的半径；控制第一检测单元获取滚轮的转动圈数；根据所述滚轮的半径和转动圈数计算行进距离。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述行进距离和/或所述相对状态参数控制第三检测装置移动，使所述第三检测装置位于所述中间轨的上方包括：获取中间轨与第一行进轨的第一夹角；根据所述行进距离和所述第一夹角，计算中间轨与第一行进轨的第一距离参数；根据所述第一距离参数控制第三检测装置移动，使第三检测装置位于中间轨的上方。 4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述行进距离和所述第一夹角，计算中间轨与第一行进轨的第一距离参数之前还包括：记录岔区轨道检测系统的行进初始点；控制第二检测装置获取岔区轨道检测系统的当前位置；根据所述行进初始点和所述当前位置修正所述行进距离。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基准线由所述岔区轨道旁的多个CPⅢ控制点确定；所述第二检测装置为全站仪，固定在所述岔区轨道检测系统上并位于所述第一行进轨的正上方。 6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一检测装置包括第二检测单元，所述方法还包括：获取设计轨距；控制第二检测单元获取实际轨距参数，所述实际轨距参数用于表征第一行进轨和第二行进轨的实际轨距；根据设计轨距与实际轨距参数计算第一轨距偏差，所述第一轨距偏差用于表征第一行进轨和第二行进轨的实际轨距与设计轨距之间的偏差。 7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述控制第二检测装置获取第一行进轨与基准线之间的相对状态参数包括：控制第二检测装置获取第一行进轨与基准线之间的第二距离参数；所述方法还包括：获取第一行进轨的第一设计位置参数；根据第一设计位置参数、第二距离参数和实际轨距参数计算第一行进轨的第一绝对位移量和第二行进轨的第二绝对位移量。 8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取中间轨的第二设计位置参数；根据第一距离参数、第二距离参数、设计轨距和第二设计位置参数计算中间轨的第三绝对位移量。 9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：控制第一检测装置检测第一行进轨和第二行进轨的结构状态。 10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一检测装置包括三维激光位移传感器。
所属类别：	发明专利