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一种检测二氧化锡中杂质的样品处理方法
| 专利名称： | 一种检测二氧化锡中杂质的样品处理方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种检测二氧化锡中杂质的样品处理方法，其特征在于：（1）样品烘干至恒重；（2）二氧化锡样品与氢氧化钾质量比1:3，分别称取2/3氢氧化钾量铺于银坩埚，称取3份二氧化锡样品铺上，称取3份1/3氢氧化钾量盖于样品上，银坩埚置于喷火头处，加热使样品熔融、冷却，用超纯水将熔融物转移至250 mL烧杯，再用10mL浓盐酸转移，加热烧杯溶解；按同样的方法做一空白试液；（3）取下烧杯、冷却，分别转移到100 mL容量瓶、混匀；（4）取1组试样溶液和空白溶液定容，分别作为待测液和空白溶液。本发明优点：对不同工艺生产的二氧化锡均能快速进行样品处理，高效分析出杂质含量；操作简单、安全、结果准确，不会堵塞仪器管道。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 安徽;34 |
| 申请人： | 蚌埠中光电科技有限公司 |
| 发明人： | 彭寿;张冲;舒众众;刘文瑞;张晓东;冯冠奇 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-02T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-15T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910820513.X |
| 公开号： | CN110455598A |
| 代理机构： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 |
| 代理人： | 杨晋弘 |
| 分类号： | G01N1/28(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 233000安徽省蚌埠市龙子湖区石屋路199号 |
| 主权项： | 1.一种检测二氧化锡中杂质的样品处理方法，包括现有等离子发射光谱检测步骤，其特征在于：等离子发射光谱检测前二氧化锡样品的处理； 具体包括以下步骤： （1）将样品二氧化锡放入洁净的玻璃称量瓶中，105℃~115℃烘干至恒重，随后置于干燥器中冷却待用； （2）按二氧化锡样品称样量与优级纯氢氧化钾称样量比值1:3，分别称取2/3的氢氧化钾量平铺三个干净、干燥的银坩埚底部，再准确称取3份烘干后的二氧化锡样品分别加入上述银坩埚中，最后再准确称取3份1/3重量的氢氧化钾量盖于样品上部，将银坩埚置于喷火头处，加热至样品全部熔融，停止加热，冷却至室温，用超纯水将银坩埚内将二氧化锡碱熔融物分别转移到三个250 mL烧杯中，再分别用10mL浓度36.0-38.0%的浓盐酸冲洗银坩埚并将洗液转移至对应的三个烧杯中，随后将烧杯加热溶解；按同样的方法做一空白试液； （3）取下烧杯，冷却至室温，分别转移到100 mL容量瓶中，慢慢晃动容量瓶，使容量瓶内溶液混合均匀； （4）取步骤（3）中1组试样溶液和空白溶液定容至标线，并以此分别作为待测液和空白溶液。 2.根据权利要求1所述一种检测二氧化锡中杂质的样品处理方法，其特征在于：所述称量偏差不超过±0.0002g。 3.根据权利要求1所述一种检测二氧化锡中杂质的样品处理方法，其特征在于：所述待测二氧化锡样品的粒径小于100μm。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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