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原文传递提供概览图像的方法

专利名称：	提供概览图像的方法
摘要：	本发明涉及一种提供在样品平面中布置的物体的概览图像的方法，并且该方法包括以下步骤：生成光片，捕获来自样品平面的检测光，通过检测器将捕获的检测光以至少一个捕获的像的图像数据的形式成像在检测平面中，其中捕获的像在相对于样品平面倾斜的像平面中延伸，捕获物体中的至少一个区域的倾斜的堆栈的形式的多个像，并且将倾斜的堆栈变换到归一化Z堆栈，其中将相对于参考轴线的正确取向分配给捕获的像的图像数据。根据本发明的方法以归一化Z堆栈的最大强度投射为特征，其中通过将选择的像点中的每一个作为虚拟投射成像到平行于检测器的像平面的投射平面中，生成得到的概览图像。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	卡尔蔡司显微镜有限责任公司
发明人：	J.西本摩根
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-11-26T00:00:00+0800
申请号：	CN201910416904.5
公开号：	CN110501315A
代理机构：	北京市柳沈律师事务所
代理人：	王蕊瑞
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	德国耶拿
主权项：	1.一种提供在样品平面(5)中布置的物体(1)的概览图像(OV)的方法，包括以下步骤： -步骤A：生成光片(8)，其中所述光片(8)沿着第一光轴(A1)来生成并且至少部分地在所述样品平面(5)上， -步骤B：沿着第二光轴(A2)捕获来自所述样品平面(5)的检测光， -其中所述第一光轴(A1)和所述第二光轴(A2)在所述样品平面(5)中相交并且一起围成直角，以及 -所述第一光轴(A1)和所述第二光轴(A2)与正交于所述样品平面(5)的参考轴线(B)各围成不为零的角度(α1、α2)。 -步骤C，通过检测器将所捕获的检测光以至少一个捕获的像的图像数据(9)的形式成像在检测平面中，其中所捕获的像在相对于所述样品平面(5)倾斜的像平面中延伸， -步骤D：在所述光片(8)和所述物体(1)的相对移动中通过在所述样品平面(5)中移动所述光片(8)来捕获所述物体(1)中的至少一个区域的多个像，其中所捕获的像相对于所述样品平面倾斜并且形成倾斜的堆栈， -步骤E，将所述倾斜的堆栈变换到归一化Z堆栈(10)，其中将相对于所述参考轴线(B)的正确取向分配给所捕获的像的图像数据(9)，所述方法的特征在于，在步骤F中，在所述归一化Z堆栈(10)中进行最大强度投射，其中所有像点沿着所述第二光轴(A2)或沿着与其平行的轴线一个位于另一个后面，关于所有像点的相应的强度来评估所述所有像点，并且沿着每个轴线选择具有最高强度的像点，以及通过将选择的像点中的每一个作为虚拟投射成像到平行于所述检测器的像平面的投射平面(3)中，生成得到的概览图像(OV)。 2.根据权利要求1的方法，其特征在于，将所述得到的概览图像(OV)捕获作为概览图像数据集合。其中，在步骤G中，将所述概览图像数据集合的拷贝件确立为拷贝图像数据集合，所述拷贝件具有相对于所述得到的概览图像的对比度减少的对比度，以及所述拷贝图像数据集合的图像数据(9)抵消所述概览图像数据集合的各自对应的图像数据(9)，使得获得了具有相对于所述得到的概览图像(OV)增加的对比度的计算出的概览图像(OVcomp)。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，将所述概览图像(OV)变换为正交于所述参考轴线(B)延伸的像平面。
所属类别：	发明专利