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一种利用双能衍射测量应变分布的方法及装置
| 专利名称： | 一种利用双能衍射测量应变分布的方法及装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种利用双能衍射测量应变分布的方法及装置，属于材料应力测量技术领域，解决了现有技术中测量装置和数据分析复杂、很难得到大面积应变分布信息、难以直接测量第一类应变分布的问题。该方法包括以下步骤：分别获得以E1、E2能量X射线照射下产生的第一衍射斑和第二衍射斑；获得第一衍射斑和第二衍射斑的像素点在不同旋转角度时的光强及对应像素点在光强最大时对应的旋转角度差；根据能量E1、能量E2和旋转角度差确定第一衍射斑中像素点对应的布拉格角；利用布拉格角确定第一衍射斑像素点对应位置的应变，以获得样品待测晶面的第一类应变分布。该方法测量简单、误差小、可以得到大面积应变分布信息、可直接测量第一类应变分布。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 发明人： | 易栖如;张杰;黎刚;王艳萍;姜晓明 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-29T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-29T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910807183.0 |
| 公开号： | CN110514681A |
| 代理机构： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 李明里 |
| 分类号： | G01N23/20(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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