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原文传递 一种颗粒物浓度测量方法及装置
专利名称: 一种颗粒物浓度测量方法及装置
摘要: 本发明公开了一种颗粒物浓度测量方法及装置,通过获取无颗粒物沉积状态下光电转换装置输出的电信号经前置放大器A1后输出的放大信号,确定初始基底电压Umin~Umax;实时对光电转换装置输出的电信号U1经过前置放大器A1的基底电压值Ut进行检测,并将基底电压值Ut与初始基底电压Umin~Umax进行比较,并根据比较结果对电信号U1中的直流分量进行补偿。本发明一方面能够克服由于颗粒物沉积产生的杂散光、气流通道内壁上产生的反射光对测量信号的干扰,另一方面能够克服由于电子元器件一致性差及温度骤变等因素造成的测量信号失真的技术问题,具有成本低、体积小巧、测量精度高的技术优势。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 武汉四方光电科技有限公司
发明人: 熊友辉;何涛;李少勇;杨伟
专利状态: 有效
申请日期: 2019-07-19T00:00:00+0800
发布日期: 2019-12-03T00:00:00+0800
申请号: CN201910656989.4
公开号: CN110530766A
代理机构: 武汉知产时代知识产权代理有限公司
代理人: 邹桂敏
分类号: G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园凤凰园三路3号
所属类别: 发明专利
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