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一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法
| 专利名称： | 一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种含镀层贵金属成分的X射线荧光光谱分析方法，其分析的待测物由基体和包覆于基体外的镀层组成，所述基体的主要成分为贵金属；包括以下步骤：S1、利用X射线荧光光谱实测待测物基体组成元素的荧光测定强度I3，根据测得的元素信息设定基体组成元素的初始含量Wn；S2、根据基体组成元素的初始含量Wn，基于有镀层测试条件计算基体组成元素的荧光理论强度I4，所述有镀层测试条件为引入镀层密度、镀层厚度和镀层质量来修正镀层组成元素对基体组成元素的吸收影响；S3、根据基体组成元素的荧光理论强度I4，采用基本参数法计算出基体组成元素的实际含量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 岛津企业管理(中国)有限公司 |
| 发明人： | 刘建红;胡晓春;林哲琼 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-12T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910867000.4 |
| 公开号： | CN110530912A |
| 代理机构： | 广州骏思知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 吴静芝 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 200131 上海市浦东新区自由贸易试验区富特西一路381号汤臣园区A1楼第6层B部位 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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