专利名称: |
一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法 |
摘要: |
本发明公开了一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法。所述可视化阵列式高通量质谱检测装置包括TOF‑SIMS质谱仪、基底和若干溶液混合容器;基底为栅格化硅片;基底固定于TOF‑SIMS质谱仪的样品托盘上;样品托盘与TOF‑SIMS质谱仪的进样系统相连通;TOF‑SIMS质谱仪包括计算机控制系统。本发明通过采用氧化石墨烯作为TOF‑SIMS基质,起到吸附富集溶液中样品,增强分子量较大样品整分子离子信号,辅助限定样品区域等作用,通过TOF‑SIMS检测样品组分的整分子离子并给出离子分布图,实现高通量分析并给出可视化结果。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
清华大学 |
发明人: |
李展平;蔡乐斯;夏梦婵;冯嘉欣;张新荣;张四纯 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-09-25T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-12-03T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910910281.7 |
公开号: |
CN110530966A |
代理机构: |
北京纪凯知识产权代理有限公司 |
代理人: |
王春霞 |
分类号: |
G01N27/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
100084 北京市海淀区北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |
所属类别: |
发明专利 |