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一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法
| 专利名称： | 一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法。所述可视化阵列式高通量质谱检测装置包括TOF‑SIMS质谱仪、基底和若干溶液混合容器；基底为栅格化硅片；基底固定于TOF‑SIMS质谱仪的样品托盘上；样品托盘与TOF‑SIMS质谱仪的进样系统相连通；TOF‑SIMS质谱仪包括计算机控制系统。本发明通过采用氧化石墨烯作为TOF‑SIMS基质，起到吸附富集溶液中样品，增强分子量较大样品整分子离子信号，辅助限定样品区域等作用，通过TOF‑SIMS检测样品组分的整分子离子并给出离子分布图，实现高通量分析并给出可视化结果。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 清华大学 |
| 发明人： | 李展平;蔡乐斯;夏梦婵;冯嘉欣;张新荣;张四纯 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-09-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-03T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910910281.7 |
| 公开号： | CN110530966A |
| 代理机构： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 王春霞 |
| 分类号： | G01N27/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 100084 北京市海淀区北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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