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原文传递用于功能薄膜的电学测试装置

专利名称：	用于功能薄膜的电学测试装置
摘要：	本实用新型公开一种用于功能薄膜的电学测试装置，包括电极固定基座、4个铜导线、4个金属铟柱、电压表和电流表，所述电极固定基座开有4个由上置物孔和下置物孔连接的安装通孔，所述铜导线位于下置物孔内，所述金属铟柱位于上置物孔内并与铜导线焊接连接，一压力机构安装于电极固定基座上，测试样品上表面和下表面分别与压力机构的下端和金属铟柱接触，第一双刀双掷开关、第二双刀双掷开关、第三双刀双掷开关和第四双刀双掷开关均包括2个动端、2个通路静端和2个断路静端。本实用新型电学测试装置保证测试装置的持久耐用，测试的数据准确率更高，并保持被测试样品和电极的接触更好，能准确、方便、可重复地测试薄膜电阻率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州科技大学
发明人：	张晓渝;臧涛成;葛丽娟;马春兰;邢园园
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-24T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-13T00:00:00+0800
申请号：	CN201822170962.8
公开号：	CN209784246U
代理机构：	苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人：	王健
分类号：	G01N27/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	215009 江苏省苏州市高新区科锐路1号
所属类别：	实用新型