专利名称: | 试样反应中抗原过量的判断方法、装置及光学检测系统 |
摘要: | 本发明涉及一种试样反应中抗原过量的判断方法,包括:时序检测试样反应中生成物的吸光度,得到表达吸光度变化的散点图;在所述散点图上截取反应开始时用于判断抗原过量的第一预设区间和充分反应时用于参照的第二预设区间,分别计算所述第一预设区间内的吸光度变化率和所述第二预设区间内的吸光度变化率;根据与所述第一预设区间内的吸光度变化率和所述第二预设区间内的吸光度变化率相关的第一判断条件和第二判断条件判断抗原是否过量。该检测方法能够有效的识别试样反应中是否存在抗原过量,提高分析结果的可靠性。本发明还公开了一种试样反应中抗原过量的判断装置,以及一种光学检测系统。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 四川;51 |
申请人: | 迈克医疗电子有限公司 |
发明人: | 赵清楠;王准 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2019-09-29T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-12-13T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201910935144.9 |
公开号: | CN110567900A |
分类号: | G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: | 611731 四川省成都市高新区安和二路8号4栋 |
所属类别: | 发明专利 |