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一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法
| 专利名称： | 一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种热电离质谱仪测量铪同位素丰度的方法，依次包括：第一步、发射剂配制：配制测量所需发射剂，发射剂为碳纳米管混合悬浊液；第二步、样品加载：将样品和发射剂加载在铼带上并烘干，以单带方式安装插件；第三步、样品测量：热电离质谱仪设置为正离子模式，待检测离子为Hf+，样品带温度升至5.5～5.8A，待稳定后测量。本发明显著提高了离子发射效率，增强了离子流信号，提高了测量灵敏度，减弱了分馏效应，延长了信号平稳的时间，提高了测量结果的重复性和准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 中国核动力研究设计院 |
| 发明人： | 梁帮宏;苏冬萍;罗婷;李顺涛;张劲松;陈云明;李兵 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-11-04T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-12-20T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201911066635.0 |
| 公开号： | CN110596231A |
| 代理机构： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 林菲菲 |
| 分类号： | G01N27/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 610000 四川省成都市双流区长顺大道一段328号 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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