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原文传递一种超分辨显微分析磁光镊装置

专利名称：	一种超分辨显微分析磁光镊装置
摘要：	本发明提供一种超分辨显微分析磁光镊装置，包括，第一光镊、第二光镊、磁场、聚苯乙烯微珠及铁磁性微珠；所述聚苯乙烯微珠被所述第二光镊捕获，所述铁磁性微珠被所述第一光镊捕获；所述铁磁性微珠被所述磁场操控形成磁镊。磁场和光场都可以分别进行强度和位置控制，均非机械运动，可以同时捕获和操控同一个微珠。磁镊产生的磁场由电流线圈产生，非工作时对其他物件无磁化影响。磁镊的操作由改变输入电流大小和方向实现，无机械运动，磁镊的操作精度和稳定性得到极大提高。光镊由两束或多束激光产生，使光镊控制更加精密。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉铢寸科技有限公司
发明人：	罗华;程雍;高斌
专利状态：	有效
申请日期：	2019-09-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-12-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910927145.9
公开号：	CN110596003A
分类号：	G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷七路128号核磁波谱仪产业基地实验楼2层201室
所属类别：	发明专利